雷射跟蹤掃描系統

雷射跟蹤掃描系統是一種用於力學領域的計量儀器，於2012年6月30日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射跟蹤掃描系統
• 產地：瑞士
• 學科領域：力學
• 啟用日期：2012年6月30日
• 所屬類別：計量儀器 > 長度計量儀器 > 雷射跟蹤儀

技術指標

測量半徑80M。

主要功能

測量結構上各個點的空間三維坐標，可以單點進行測量，也可以通過掃描頭對物體表面進行掃描，獲取物體表麵點雲數據。