多尺度綜合光學測量系統

多尺度綜合光學測量系統是一種用於測繪科學技術領域的物理性能測試儀器，於2015年3月12日啟用。

基本介紹

• 中文名：多尺度綜合光學測量系統
• 產地：中國
• 學科領域：測繪科學技術
• 啟用日期：2015年3月12日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 光電測量儀器 > 光纖多參數測量儀

技術指標

測量精度高，達到12ppm；非接觸式測量；測量效率高；可以在不穩定的環境中測量；特別適合狹小空間的此類那個；數據率高，方便獲取大量數據；適應性好，被測物尺寸從幾十公分到幾米；便攜性好；系統穩定可靠性高。

主要功能

可以實現工件工裝的定位測量，曲面成形質量測量等。