光測量系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2011年12月20日啟用。
基本介紹
- 中文名:光測量系統
- 產地:美國
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2011年12月20日
- 所屬類別:計量儀器 > 光學計量儀器
光測量系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2011年12月20日啟用。
光測量系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2011年12月20日啟用。技術指標測量範圍:(13~-80)dBm。1主要功能該裝置由光功率計、光衰減儀、DFB光源三台儀器合併而成,主要用來測量光發射端機的輸出功率和調節光...
《直接光差分測量系統》是費森尤斯醫療控股股份有限公司於2016年6月24日申請的專利,該專利公布號為CN107683109B,專利公布日為2021年6月8日,發明人是路易斯·L·巴雷特。 國際專利分類號 Int. Cl.A61B5/1455(2006.01)I; A61B5...
熱釋光/光釋光測量系統是一種用於核科學技術領域的分析儀器,於2016年10月28日啟用。技術指標 TL:可從室溫加熱到700℃,升溫率可在0.1 K/s -10 K/s之間編程調節。恆溫TL可在任何固定溫度下操作。 OSL: 藍色LED(波長470nm)...
使用81600B、81940A 或 81980A TLS,以及功率計 (例如 816x 系列模組或多連線埠 N7744A 和 N7745A) 和免費的 N7700A IL 軟體,可以組成一個測量系統。這些“波長掃描”例程的編程過程非常簡單,可以使用免費的 816x 即插即用驅動...
光輻射測量系統是一種用於材料科學領域的計量儀器,於2009年7月1日啟用。技術指標 核心為OL750高精度單色儀,此外,此套系統還包括鎢燈光源、望遠系統、積分球、準直器、標準Si探頭、PbS探頭、各種狹縫小孔等,可進行250-2500nm間的高...
光譜測量系統 光譜測量系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2009年06月01日啟用。技術指標 200-500GHz,750-900GHz。主要功能 THz信號測量。
2020年12月24日,國家標準《光電測量—配光測試系統的性能要求和檢測方法》(GB/T 39585-2020)由中華人民共和國國家市場監督管理總局、中華人民共和國國家標準化管理委員會發布。2021年7月1日,國家標準《光電測量—配光測試系統的性能...