光輻射測量系統

光輻射測量系統是一種用於材料科學領域的計量儀器，於2009年7月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：光輻射測量系統
• 產地：美國
• 學科領域：材料科學
• 啟用日期：2009年7月1日
• 所屬類別：計量儀器 > 光學計量儀器 > 光譜輻射亮度國家基準

技術指標

核心為OL750高精度單色儀，此外，此套系統還包括鎢燈光源、望遠系統、積分球、準直器、標準Si探頭、PbS探頭、各種狹縫小孔等，可進行250-2500nm間的高精度光輻射測量。

主要功能

用來測量材料的反射譜、光伏電池的量子效率以及光電探測器的回響譜等。