光譜測量系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2009年06月01日啟用。
基本介紹
- 中文名:光譜測量系統
- 產地:美國
- 學科領域:電子與通信技術
- 啟用日期:2009年06月01日
- 所屬類別:電子測量儀器 > 通訊測量儀器 > 光通訊測量儀
光譜測量系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2009年06月01日啟用。
光譜測量系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2009年06月01日啟用。技術指標200-500GHz,750-900GHz。1主要功能THz信號測量。1...
螢光光譜測量系統是一種用於信息科學與系統科學、物理學、生物學領域的科學儀器,於2010年8月26日啟用。技術指標 光譜範圍380-780nm 光譜頻寬8nm(半波寬) 光譜精度?2nm 波長解析度<3.5nm/象素 發光亮度精度?4% 2856K@23℃ 測量A光源的色度精度?.0015x, ?.001y(解析度是0.001) 數據解析度14bit A/...
地物光譜測量系統是一種用於生物學、農學、林學領域的分析儀器,於2017年10月19日啟用。技術指標 1、光譜範圍350-2500nm;2、2048單元陣列式Si探測器及製冷型InGaAs 512單元列陣式探測器;3、重量<5工具;4、光譜通道2560;5、接觸式測量探頭,帶有可拆卸式葉夾。主要功能 適用於遙感測量、農作物監測、森林研究、...
紫外可見紅外光譜檢測系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2011年7月6日啟用。技術指標 (1) 焦長:550mm(2) F數:f/6.4(3) 解析度:0.025nm(4) 光譜色散:1.34nm/mm(5) 光柵尺寸:76 mm×76 mm(6) 雜散光:1×10-5。主要功能 測試材料的發光光譜,覆蓋範圍200nm-14um。
螢光光譜綜合測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2015年11月22日啟用。技術指標 脈衝激發源:納秒燈(N)、微秒/毫秒燈;連續激發源:氙燈、X光、雷射(980/808/375 nm)測量波長範圍:200-1700 nm; 樣品室溫度範圍:77-500 K;螢光衰減壽命:100 ps – 1000 us; 磷光衰減壽命:1...
光譜測試系統 光譜測試系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2018年5月31日啟用。技術指標 具有0.06nm@1200g/mm的光學解析度以及友善的人機界面,能夠進行微區表征且具有mapping功能。主要功能 研發集阻變存儲和發光顯示功能與一體的多功能器件。
傅立葉光譜測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於1996年11月1日啟用。技術指標 光譜範圍為1500~15000 cm-1, 在整個光譜範圍內的解析度可達0.0018 cm-1,雙邊干涉圖採集,線形對稱,3個光源和4個探測器,兩個樣品腔。主要功能 傅立葉光譜測量系統可以套用於氣相、液相和固相系統從遠紅外至可見波段的吸收和...
時間分辨光譜測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器。技術指標 可探測的波長範圍為200nm-900nm,MCP放大增益3×103,時間解析度為2ps,掃描範圍為160ps-2ns,儀器與Mira900F飛秒振盪系統同步,掃描頻率76MHz。具有光子計數功能。 該儀器可以自動去除信號的背景,提高信噪比;可以自動進行測量曲線的校正。主要功能 超...
光譜檢測系統 光譜檢測系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2006年3月1日啟用。技術指標 焦距:500mm,數值孔徑:f/6.5,光譜範圍:200nm-2200nm,光譜解析度:0.1nm(測量條件435.8nm,10微米狹縫)。主要功能 對微結構材料的輸出信號進行檢測和處理。
光譜輻射參數測量系統 光譜輻射參數測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2019年12月13日啟用。技術指標 波長最大示值誤差:±0.1nm。主要功能 測量200nm-3000nm光譜輻射照度、光譜輻射亮度等參數。
發光光譜測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2015年10月29日啟用。技術指標 靈敏度3000:1 波長準確度0.2nm 解析度優於0.2nm(@1200g/mm光柵) 狹縫(光譜通帶)狹縫(光譜通帶)。主要功能 用較強的單色光(如雷射器等)激發樣品/ 材料(如GaN/ZnO 等)產生螢光,通過對其螢光光譜的測量,分析該材料的...
多功能光譜測量系統 多功能光譜測量系統是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2004年9月16日啟用。技術指標 單色儀:f=150mm二片光柵1200G/mm 300nm 1200G/mm500n。主要功能 可用於液體或固體的螢光光譜測量。
太赫茲光譜測量系統 太赫茲光譜測量系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2013年3月22日啟用。技術指標 3.5THz。主要功能 用於THz信號傳輸/反射測量,光柵掃描成像。
光譜測控系統是一種用於信息科學與系統科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2018年12月11日啟用。技術指標 XYZ=100*100*4.8mm,精度:XY小於1微米,Z小於1.5微米。顯微同軸,光束小於1微米,適合波長300-1000nm,工作焦距大於5mm。光譜儀解析度小於0.05nm,回響範圍 300-90nm,CCD:1340*100像素,最低負80度...
微區光譜測量系統 微區光譜測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2019年3月29日啟用。技術指標 矽三階拉曼信號好於30:1,圓二色信號與計算結果基本重合。主要功能 測量透射光譜,反射光譜,圓二色信號,拉曼,暗場。
傅立葉變換紅外光譜輻射測量系統 傅立葉變換紅外光譜輻射測量系統是一種用於地球科學、地球觀測領域的分析儀器,於2019年4月16日啟用。技術指標 光譜範圍:500-5000cm-1;光譜解析度:1,2,4,8,16,32,64,128cm-1;視場角:45mrad;有效發射率:0.9985。主要功能 ASSISTII可自動獲取4km高的大氣溫度及濕度廓線。
雙光束光譜同步測量系統 雙光束光譜同步測量系統是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2018年3月6日啟用。技術指標 波長範圍:350-2500 nm;波長重複性:0.1 nm;波長準確度:0.5 nm。主要功能 野外冰川遙感研究。
雷射光譜檢測系統 雷射光譜檢測系統是一種用於化學領域的分析儀器,於2007年10月17日啟用。技術指標 延時範圍小於4 ns,時間解析度100 fs,激發光譜範圍300-1600 nm。主要功能 生物學和功能材料的是飛秒時間分辨吸收和螢光光譜檢測。
螢光光譜測試系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2003年11月1日啟用。技術指標 光譜範圍:185nm—1400nm 解析度:0.05nm 色散:1.7nm/mm 重複率:±0.05nm 精確度:±0.2nm。主要功能 Spectro 500i; Spectro 2-150i;光電倍增管; InGaAs紅外探測器及冷卻器;Nel控制器;Model SR830DSP 鎖相放大器;...
紅外輻射光譜測試系統 紅外輻射光譜測試系統是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2018年04月02日啟用。技術指標 重量輕(7kg),便帶;製冷MCT / InSb雙探測器;即時光譜顯示,光譜範圍:0.8~25μm,光譜解析度:2~16波數,FFT實時處理;熱穩定黑體校正輸出。主要功能 6--15um波長段的熱紅外輻射光譜測量。
高光譜檢測系統是一種用於生物學、農學領域的分析儀器,於2014年08月15日啟用。技術指標 1. 光譜範圍(nm): 970-2500 2. 光譜解析度(nm): 10 3. 光譜通道數: 256 4. 空間像素數(pixels/line): 320 5. 空間解析度(μm): 30-300 6. 掃描範圍(mm): 10-100 7. 樣品掃描時間(s, 典型): 3-...
它己被廣泛使用於幾乎所有的光譜測量,分析及研究工作中,特別適應於對微弱信號,瞬變信號的檢測。構成 一台典型的光譜儀主要由一個光學平台和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分:1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。2. 準直元件: 使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一...
紅外光譜檢測系統 紅外光譜檢測系統是一種用於生物學、化學、物理學、農學領域的分析儀器,於2018年12月10日啟用。技術指標 紅外檢測系統(64位MCT陣列檢測器帶數據採集系統,紅外光柵光譜儀,80通道數據採集卡,單點MCT檢測器,INSB檢測器)。主要功能 紅外雷射檢測。
光源總光譜通量測試系統是一種用於農學領域的分析儀器,於2011年10月31日啟用。技術指標 紅色LED範圍1.7-93000lm,綠色LED範圍2.0-10000lm,藍色LED範圍0.7-32000lm光譜範圍350-1050nm波長精確度 小於+/-0.4nm。主要功能 符合能源之星要求的檢測及日常常規檢測,套用於LED光源、各類照明產品,能快速測得如光通量...
太赫茲光譜測試系統 太赫茲光譜測試系統是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2010年11月22日啟用。技術指標 0.9THz。主要功能 THz信號產生及測量。
微型光譜儀是光譜測量系統中的核心部件,由於體積小,便於靈活地搭建光譜系統,在科研領域套用越來越廣。簡介 微型光譜儀具體模組化和高速採集的特點,在系統集成和現場檢測的場合得到了廣泛的套用。結合光源、光纖、測量附屬檔案,可以搭配成各種光學測量系統。光譜儀器是套用光學技術、電子技術及計算機技術對物質的成分及結構...
瞬態光譜測試系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2013年9月24日啟用。技術指標 - spectral range: 200nm-850nm - detector response width: 25ps - dark count rate: 10cps at -20oC。主要功能 STM誘導發光研究,電致/光致發光動力學研究;主要作為STM誘導發光弱光信號的光子強度探測,以及光致發光的壽命...
VIII. 高溫爐(300K-1500K)安裝在系統I。低溫學(Cryogenics)五個液氦低溫保持器(cryostats)可以被用於各種各樣的實驗,主要用在低溫發射穆斯堡爾光譜儀。四個低溫保持器可以在4K到400K之間操作,且可以內含一個9T的超導電磁鐵。第五個低溫保持器可以被用在振動樣品磁力計(VSM)中的磁化測量。主要特點 穆斯...
顯微拉曼光譜測試系統 顯微拉曼光譜測試系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年12月2日啟用。技術指標 MS2004i。主要功能 顯微拉曼光譜測試系統。
光譜採集分析系統和低溫譜學測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的分析儀器,於2016年12月7日啟用。技術指標 1.光譜儀:焦長320mm,數值孔徑f/4.6,掃描範圍0-1400nm;2.CCD探測器:暗電流0.83.雷射器1:工作波長375±5nm,峰值功率150mw4.雷射器2:工作波長785±5nm,峰值功率200mw5.濾波片若干,配套...