微區光譜測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2019年3月29日啟用。
基本介紹
- 中文名:微區光譜測量系統
- 產地:英國
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2019年3月29日
- 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器 > 雷射光譜儀
微區光譜測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2019年3月29日啟用。
微區光譜測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2019年3月29日啟用。技術指標矽三階拉曼信號好於30:1,圓二色信號與計算結果基本重合。1主要功能測量透射光譜,反射光譜,圓二色信號,拉曼,暗場。1...
光譜測試系統 光譜測試系統是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器,於2018年5月31日啟用。技術指標 具有0.06nm@1200g/mm的光學解析度以及友善的人機界面,能夠進行微區表征且具有mapping功能。主要功能 研發集阻變存儲和發光顯示功能與一體的多功能器件。
微區紅外光譜分析系統是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2016年6月30日啟用。技術指標 雷射可調範圍900~2000cm-1 紅外光源線寬平均4cm-1 最小樣品厚度50nm XY方向掃描範圍80x80um Z方向掃描範圍7um 空間解析度20~100nm 點光譜測量時間約1分鐘 標準成像模式接觸模式。主要功能 納米機械性能成像,IR吸收...
針尖增強半導體材料光譜測試系統是一種用於材料科學、測繪科學技術、物理學、自然科學相關工程與技術領域的分析儀器,於2015年12月29日啟用。技術指標 測量模式:(1)接觸模式成像;(2)輕敲模式成像;(5)近場掃描功能 解析度:(1)橫向:0.2nm,垂直:0.1nm,以雲母晶體標定 光譜重複性:≦± 0.05 nm(0...
其鏡筒部分構造和SEM相同,檢測部分使用X射線譜儀,用來檢測X射線的特徵波長(波譜儀)和特徵能量(能譜儀),以此對微區進行化學成分分析。X射線譜儀是電子探針的信號檢測系統,分為:能量分散譜儀(EDS),簡稱能譜儀,用來測定X射線特徵能量。波長分散譜儀(WDS),簡稱波譜儀,用來測定特徵X射線波長。WDS組成:...
該光譜儀主要用於搭建超快吸收/反射/散射和微區超快吸收/反射光譜系統。產品參數 檢測模式:透射、反射模式可切換 光譜檢測系統:光譜儀配高速CMOS線陣感測器,光譜範圍一次採集(無需掃描單色儀)數據採集頻率:典型值500Hz-5KHz 光譜檢測範圍:可見光:400-800nm;紫外拓展:340-700nm;近紅外:850-1600nm(基於...
建立了太陽能熱光伏系統的物理模型,分析結果表明,基於優良光譜選擇性的平面吸波-輻射元件可使SPTV系統效率在>5000 suns聚焦的條件下突破SQ極限。實驗上,我們研究了器件製備技術方法,開發出一種大面積納米結構製備工藝,並對工藝參數進行了最佳化;搭建了微區光譜測量系統、積分球光譜測量系統和太陽光加熱升溫檢測系統。
該儀器以其結構簡單、操作簡便、測量快速高效準確,以低波數測量能力著稱;採用共焦光路設計以獲得更高解析度,可對樣品表面進行um級的微區檢測,也可用此進行顯微影像測量,該儀器成為可移動小型實驗室。產品介紹 系統特性 高性能的拉曼系統套用在實驗室 和工業上過程監測。大功率、穩頻、窄線寬激發源CCD可選製冷溫度...
雷射拉曼光譜儀是一個集合了雷射光譜學、精密機械和微電子系統的綜合測量體系。其最終結果是獲得散射介質在一定方向上具有一定偏振態的散射光強隨頻率分布的譜圖。雷射拉曼光譜儀分析是一種非破壞性的微區分析手段,液體、粉末及各種固體樣品均不需特殊處理即可用於拉曼光譜的測定。拉曼光譜可以單獨,或與其他技術(如X...
該儀器由可調整激發角度和偏振狀態的光源裝置、樣品台及流動樣品池、光路耦合部件、特殊納米結構的增強基底-樣品載片、檢測共振吸收角度與強度的探測裝置和暗場顯微光譜檢測系統組成。各部分相互耦合併協同工作。與傳統的各自獨立的SPR譜儀及顯微光譜儀相比較,除了具備兩類儀器各自的基本功能外,還具有同步檢測表面等離子...
實驗驗證發現:原子譜線的穩定性高於離子譜線;採用自動聚焦系統,光譜強度的相對標準偏差(RSD)從16.7%降低到6.7%;測量精度大幅提高。 3、改變兩束不同雷射波長的時序,開展DP-LIBS相對於SP-LIBS光譜信號強度隨兩脈衝間隔影響的研究。原子譜線最高可以增強15倍,離子線可以增強4.5倍。 4、對水稻根、莖、葉和...
原子序數12至22的元素要在真空下進行成分測定,原子序數12以內的元素需要增添一些特殊設備才能分析。原子序數50以上的元素用L系X射線光譜進行分析,原子序數50以下的元素也可以分析,如Sn(50)可用K系x射線光譜進行分析。簡單原理 電子探針的原理如圖1所示。(1)電子光學系統。電子束直徑0.1~1μm,電子束穿透深度...