針尖增強半導體材料光譜測試系統是一種用於材料科學、測繪科學技術、物理學、自然科學相關工程與技術領域的分析儀器，於2015年12月29日啟用。
基本介紹
- 中文名：針尖增強半導體材料光譜測試系統
- 產地：義大利
- 學科領域：材料科學、測繪科學技術、物理學、自然科學相關工程與技術
- 啟用日期：2015年12月29日
- 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 掃描探針顯微鏡
技術指標,主要功能,
技術指標
測量模式：（1）接觸模式成像；（2）輕敲模式成像；（5）近場掃描功能 解析度：（1）橫向：0.2nm，垂直：0.1nm，以雲母晶體標定 光譜重複性：≦± 0.05 nm（0.2cm-1）光譜解析度：可見光全波段解析度高於0.03nm。
主要功能
材料拉曼、螢光微區分析、摻雜納米顆粒光學特性分析。
