時間分辨光譜測量系統

時間分辨光譜測量系統是一種用於物理學領域的分析儀器。

基本介紹

• 中文名：時間分辨光譜測量系統
• 產地：日本
• 學科領域：物理學
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 螢光分光光度計

技術指標

可探測的波長範圍為200nm-900nm，MCP放大增益3×103，時間解析度為2ps，掃描範圍為160ps-2ns，儀器與Mira900F飛秒振盪系統同步，掃描頻率76MHz。具有光子計數功能。 該儀器可以自動去除信號的背景，提高信噪比；可以自動進行測量曲線的校正。

主要功能

超快速時間分辨螢光動力學特性研究；介觀光學研究。