光譜檢測系統

光譜檢測系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2006年3月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：光譜檢測系統
• 產地：美國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2006年3月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器

技術指標

焦距：500mm，數值孔徑：f/6.5，光譜範圍：200nm-2200nm，光譜解析度：0.1nm(測量條件435.8nm，10微米狹縫)。

主要功能

對微結構材料的輸出信號進行檢測和處理。