瞬態光譜測試系統

瞬態光譜測試系統是一種用於物理學領域的分析儀器，於2013年9月24日啟用。

基本介紹

• 中文名：瞬態光譜測試系統
• 產地：英國
• 學科領域：物理學
• 啟用日期：2013年9月24日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 雷射光譜儀

技術指標

- spectral range: 200nm-850nm - detector response width: 25ps - dark count rate: 10cps at -20oC。

主要功能

STM誘導發光研究，電致/光致發光動力學研究；主要作為STM誘導發光弱光信號的光子強度探測，以及光致發光的壽命測量。