光譜測控系統

光譜測控系統是一種用於信息科學與系統科學、電子與通信技術領域的分析儀器，於2018年12月11日啟用。

基本介紹

• 中文名：光譜測控系統
• 產地：美國
• 學科領域：信息科學與系統科學、電子與通信技術
• 啟用日期：2018年12月11日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 原子螢光光譜儀

技術指標

XYZ=100*100*4.8mm,精度：XY小於1微米，Z小於1.5微米。顯微同軸，光束小於1微米，適合波長300-1000nm，工作焦距大於5mm。光譜儀解析度小於0.05nm,回響範圍 300-90nm，CCD:1340*100像素，最低負80度。

主要功能

雷射微加工及光譜記錄。