UV762分光光度計是一款雙光束的分光光度計，採用進口元件，獨特的光學系統設計，使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光精確度和穩定可靠性高，在國內同類儀器中處於先進水平。
基本介紹
- 中文名：UV762分光光度計
- 波長範圍：190nm～1100nm
- 光譜頻寬：2nm
- 波長準確度：≤±0.3nm
UV762分光光度計是上海佑科的一款雙光束的分光光度計 精度在國內同類儀器中處於先進水平，它的參數如下： 功能特點：
關鍵元件採用進口元件，全新獨特的光學系統設計，使儀器的主機具有優良的光學性能和測光性能，雜散光低，測光精確度和穩定可靠性高。 真正的雙光束測光系統，配合先進的電路測控系統，使儀器具有較高的可靠性和極低的噪聲。 獨特的氘燈和鎢燈安裝，光源自動切換及自動尋找最佳位置的設計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全． 採用大螢幕中文視窗(LED)液晶屏顯示，具有良好的人機對話界面． 優良的軟體設計和編制，使儀器有較強光譜數據處理功能：自動掃描測量光譜, 多波長( 1-3λ) 測定、動力學測定、1－3次曲線擬合、1－4階導數光譜、存取顯示列印光譜圖和分析數據。 基於Windows 平台開發的強大軟體，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節省費用。 性能指標：
波長範圍：190nm～1100nm 光譜頻寬：2nm 波長準確度：≤±0.3nm(開機自動校正) 波長重複性：≤0.2nm 透射比準確度：±0.3%(T) 透射比重複性：0.2%(T) 透射比測量範圍：0～200%T 吸光度測量範圍：-0.301～3.000A 雜光：≤0.15%(在220nm處，以NAI測定) 漂移：≤0.004A/H （500nm處） 噪聲：100%線噪聲≤0.15%T；0%線噪聲≤0.1%T 掃描速度：快 中 慢
