熱釋光/光釋光測量系統

熱釋光/光釋光測量系統是一種用於核科學技術領域的分析儀器，於2016年10月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：熱釋光/光釋光測量系統
• 產地：中國
• 學科領域：核科學技術
• 啟用日期：2016年10月28日
• 所屬類別：分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀

技術指標

TL：可從室溫加熱到700℃，升溫率可在0.1 K/s -10 K/s之間編程調節。恆溫TL可在任何固定溫度下操作。 OSL： 藍色LED（波長470nm）激發：50 mW/cm2； 紅外LED（波長870nm）激發：145 mW/cm2； 可在任何溫度下調控。 輻射源選擇： β(90Sr/90Y)陶瓷源 (1.48 GBq)劑量率（石英）： 0.1 Gy/s； α(241Am)源(10.7 MBq)劑量率（石英）：45 mGy/s； X射線發生器(50 kV, 1 mA)動態劑量率（石英）：10 mGy/s-2 Gy/s。 單顆粒OSL： 聚焦綠色雷射激發(532nm)：50 W/cm2； 可選擇：IR雷射激發 (830 nm)：~ 500 W/cm2； 電源： 100-240 V 50/60 Hz (120 W)。

主要功能

丹麥Ris？ DA20 C/D熱釋光/光釋光考古和地質年代測定系統是Ris？國家實驗室設計生產的，是最新一代的螢光讀出系統，即能測量熱釋光又能測量光釋光。Ris？ DA20 C/D熱釋光/光釋光考古和地質年代測定系統包括：光探測系統、熱釋光系統、光釋光系統，輻照系統等子系統組成。