釋光測量系統

釋光測量系統是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2011年12月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：釋光測量系統
• 產地：德國
• 學科領域：地球科學
• 啟用日期：2011年12月28日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器

技術指標

藍光波長和功率：470 nm和50 mW/cm2 紅外光波長和功率：870 nm和145 mW/cm2 熱激發溫度：0-700 oC 升溫速率：0.1-10 K/s 測量樣品個數：48個 濾光片：7.5 mm U-340， 2 mm Schott BG-39， 4 mm Corning 7-59 輻照源類型：90Sr/90Y 光電倍增管類型：EMI 9235QA 單顆粒樣品室尺寸：深度300 μm，直徑300 μm 單顆粒樣品測量個數。

主要功能

釋光信號測量。