釋光測量系統

釋光測量系統

釋光測量系統是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2011年12月28日啟用。

基本介紹

  • 中文名:釋光測量系統
  • 產地:德國
  • 學科領域:地球科學
  • 啟用日期:2011年12月28日
  • 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

藍光波長和功率:470 nm和50 mW/cm2 紅外光波長和功率:870 nm和145 mW/cm2 熱激發溫度:0-700 oC 升溫速率:0.1-10 K/s 測量樣品個數:48個 濾光片:7.5 mm U-340, 2 mm Schott BG-39, 4 mm Corning 7-59 輻照源類型:90Sr/90Y 光電倍增管類型:EMI 9235QA 單顆粒樣品室尺寸:深度300 μm,直徑300 μm 單顆粒樣品測量個數。

主要功能

釋光信號測量。

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