光學特性測量系統

光學特性測量系統是一種用於信息科學與系統科學領域的電子測量儀器，於2011年6月7日啟用。

基本介紹

• 中文名：光學特性測量系統
• 產地：德國
• 學科領域：信息科學與系統科學
• 啟用日期：2011年6月7日
• 所屬類別：電子測量儀器

技術指標

亮度範圍：0.01cd/m2-2000cd/m2 亮度精度：≤3% 反應時間解析度：≤0.1ms 光譜測量範圍：380-780nm 光譜精度：≤0.5nm 光譜解析度：≤1nm 光源：投射光源、反射式漫射光源、反射式平行光源。

主要功能

用於平板顯示光電特性測量。