光學顯微鏡測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2016年12月21日啟用。
基本介紹
- 中文名:光學顯微鏡測量系統
- 產地:日本
- 學科領域:工程與技術科學基礎學科
- 啟用日期:2016年12月21日
- 所屬類別:分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡
光學顯微鏡測量系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2016年12月21日啟用。
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光學系統 顯微鏡的光學系統主要包括物鏡、目鏡、反光鏡和聚光器四個部件。廣義的說也包括照明光源、濾光器、蓋玻片和載玻片等。(一)物鏡 物鏡是決定顯微鏡性能的最重要部件,安裝在物鏡轉換器上,接近被觀察的物體,故叫做物鏡或接物鏡...
同軸顯微鏡 採用無限遠光學系統和同軸照明連續變倍光學系統,是國內完全代替進口產品的高性能顯微鏡,整個視野照明均勻,全程齊焦無閃動,超長景深,具有高解析度和高清晰度的品質。 中文名 同軸顯微鏡 用途 在目鏡上作顯微觀察 變倍範圍 0.7X-...
形狀測量雷射顯微系統是一種用於物理學領域的計量儀器,於2012年02月15日啟用。技術指標 物鏡倍數:10X、20X、50X、150X;光學變焦:1~6倍;操作距離(mm):16.5、3.1、0.35、0.2;數值孔徑:0.3、0.46、0.95、0.95; ...
三維視頻顯微測試系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2010年7月1日啟用。技術指標 1). 攝像頭:1/1.8 211萬像素彩色CCD 2). 總像素:1688×1248pixels(約211萬像素) 3). 有效像素:1628×1236pixels(約201萬像素),靜止...
超景深三維顯微觀測系統是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的分析儀器,於2015年4月9日啟用。技術指標 1、放大倍數:物鏡20倍、50倍、100倍; 2、解析度:XY方向0.12μm ,Z方向0.01μm; 3、XY測量距離:20倍是10μm...
2007,融合光學重新定義顯微鏡的測量值 生命科學研究的發展要求前沿的顯微成像技術能夠突破200 nm 的Abbe 分辨極限, 觀察到亞細胞水平的細胞器,從而更深入地探索生命的奧秘。 Leica 顯微系統以創新的Confocal 技術以及體視顯微鏡融合光學技術...
(3)X射線強度測量系統。特徵X射線,由B系統中的計數管接收,並轉換成電脈衝,通過脈衝高度分析儀、計數率計、定標器、電子電位計將其強度測量出來。(4)光學顯微鏡目測系統。用以準確選擇需要分析的區域,並作光學觀察。(5)背散射...