超景深三維顯微觀測系統

超景深三維顯微觀測系統是一種用於信息與系統科學相關工程與技術領域的分析儀器，於2015年4月9日啟用。

基本介紹

• 中文名：超景深三維顯微觀測系統
• 產地：日本
• 學科領域：信息與系統科學相關工程與技術
• 啟用日期：2015年4月9日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器 > 光學顯微鏡

技術指標

1、放大倍數：物鏡20倍、50倍、100倍； 2、解析度：XY方向0.12μm ，Z方向0.01μm； 3、XY測量距離：20倍是10μm，50倍是4μm，100倍是2μm； 4、Z測量距離：步長1μm。

主要功能

本設備是一種基於振動電容的非接觸無損氣相環境金屬表麵點位的測量技術，用於測量材料的 功函式或表面勢，主要套用於表面科學，吸附研究，以及腐蝕與磨損等領域，可測試霍爾效應、磁阻、I-V特性等。