X射線能譜儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年9月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:X射線能譜儀
- 產地:美國
- 學科領域:化學、材料科學
- 啟用日期:2010年9月1日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線能譜儀
X射線能譜儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年9月1日啟用。
X射線能譜儀 X射線能譜儀是一種用於化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年9月1日啟用。技術指標 可測試4-95號元素,元素含量最低解析度0.1%.。主要功能 元素定性及定量分析。
X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,激發樣品表面發射光電子,利用能量分析器,測量光電子動能(K.E),...
掃描式電子顯微鏡-X射線能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2010年3月17日啟用。技術指標 硬體:倍率:15~100000,觀察範圍:9(H)×7(V)mm~1.3(H)×1(V)mm,解析度:8nm,觀察兩次電子圖像和反射電子...
X射線能譜分析(X-ray spectrometric analysis)是2015年全國科學技術名詞審定委員會公布的計量學名詞。定義 以高能X射線為試樣,將試樣原子內層軌道的電子激發出來,形成缺少內層電子的激發態離子。該離子極不穩定,其外層電子迅速向內層...
X射線螢光能譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年6月9日啟用。技術指標 1 分析元素範圍:Na11~Bk97 2 能量解析度(Mn-Ka):優於140eV,在30,000cps下。嚴格依照ISO15632國際標準測量 3 可處理最大計數率:850,000CPS,最...
X射線光電子能譜分析儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年3月31日啟用。技術指標 Ultimate energy resolution on Ag FWHM≤0.5 eV;XPS energy resolution on PET FWHM≤0.85eV。主要功能 主要用於對樣品表面進行元素種類測定...
能譜儀(EDS,Energy Dispersive Spectrometer)是用來對材料微區成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。原理 各種元素具有自己的X射線特徵波長,特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E,能譜儀...
在與西格巴恩的合作下,美國惠普公司於1969年製造了世界上首台商業單色X射線光電子能譜儀。1981年西格巴恩獲得諾貝爾物理學獎,以表彰他將XPS發展為一個重要分析技術所作出的傑出貢獻。基本原理 X射線光子的能量在1000~1500 ev之間,不僅...
X-射線光電子能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2014年3月18日啟用。技術指標 指標:(1) 分析室真空度優於5×10-9 mbar;(2) 能量解析度≤0.5eV (對Ag3d5/2峰的半高寬,乾淨的銀標樣);(3) 最佳空間解析度≤30 ...
X射線螢光能譜儀EDXRF X射線螢光能譜儀EDXRF是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年4月27日啟用。技術指標 ARL QUANTX。主要功能 元素分析。
X射線能譜是一種用於物理學、化學、材料科學、考古學領域的分析儀器,於2005年12月1日啟用。技術指標 與掃描電子顯微鏡配合使用,用於檢測Be以上的所有元素,最大輸入計數率可達500000,。主要功能 進行材料表面微區成分的定性和定量分析...
微聚焦X射線螢光能譜儀是一種用於考古學領域的分析儀器,於2016年7月29日啟用。技術指標 光學顯微鏡引導,尖銳X射線(微米到毫米),可實現微區元素分析和線掃描、面掃描分析。電壓,10to 50kV ,調整階躍值為1kV;電流10 to 1000μA...
大視窗X射線能譜儀 大視窗X射線能譜儀是一種用於材料科學、考古學、礦山工程技術、航空、航天科學技術領域的分析儀器,於2012年3月31日啟用。技術指標 有窗:80mm視窗。主要功能 X射線能譜分析。
6. 帶有紫外光電子能譜功能,當能量解析度為100meV時,靈敏度可達1,000,000cps。主要功能 X射線光電子能譜儀可提供富有特色的表面分析手段。主要可用來對材料表面10nm範圍內的元素及元素的化學態進行定性定量表征,並通過深度剖析的方法...
EDX,全稱:Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy,能量色散X射線光譜儀 作用 EDX是藉助於分析試樣發出的元素特徵X射線波長和強度實現的, 根據不同元素特徵X射線波長的不同來測定試樣所含的元素。通過對比不同元素譜線的強度可以測定試...
0330 X射線能譜儀 編輯 當已知能量的X射線照射氣體或晶體固體時,由於光電效應,電子被打出外部;光電子能譜法,就是分析這種電子的動能,即光電子能譜而求出分子或晶體內電子結合能而鑑定物質元素的方法。原子內殼層的能級因化學結合狀態...
《半導體探測器X射線能譜儀通則》本標準由全國微束分析標準化技術委員會提出,是中國標準出版社發行。《半導體探測器X射線能譜儀通則》本標準等同採用ISO15632:2002《半導體探測器X射線能譜儀通則》。本標準的附錄A、附錄B為規範性附錄...
角分辨X射線光電子能譜儀是一種用於材料科學、化學、物理學、化學工程領域的分析儀器,於2016年12月29日啟用。技術指標 單色化Al靶、雙陽極Al/Mg靶、功率大於等於500W; 超高真空系統,樣品分析室真空優於5*10^-10 Torr; 能量分辨...
能譜儀是用來對材料微區成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。各種元素具有自己的X射線特徵波長,特徵波長的大小則取決於能級躍遷過程中釋放出的特徵能量△E,能譜儀就是利用不同元素X射線光子特徵能量不同這...
原位X射線光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的分析儀器,於2012年11月26日啟用。技術指標 單色化Al KX射線源/He電漿光源,能量分析器能量解析度≤2meV.能量測量範圍: 0.5eV~1500eV,原位有機薄膜蒸鍍系統...
X射線能譜儀及電子背散射衍射分析系統是一種用於化學、地球科學、材料科學、礦山工程技術領域的分析儀器,於2004年11月28日啟用。技術指標 峰背比優於20000:1;能量解析度(20000CPS):Mn-Ka優於129eV。主要功能 元素定性與半定量分析,...
X射線能譜儀和EBSD X射線能譜儀和EBSD是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2008年1月1日啟用。技術指標 解析度:MnKa峰半高寬優於133eV;分析元素範圍:Be4-U92。主要功能 對材料進行元素成分分析和晶體結構、織構分析。
X射線電子能譜 X射線電子能譜是一種用於化學領域的分析儀器,於2005年10月25日啟用。技術指標 空間解析度(um):500um,能量解析度小於0.06,靈敏度:100000。主要功能 XPS,UPS。
X-光電子能譜儀是一種用於物理學、化學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2011年12月28日啟用。技術指標 1、真空度:≤4X10-6Pa;2、能量範圍:0-1200電子伏特;3、X-ray類型:錐形雙陽極Mg或Al的Kа射線;4、最佳能量解析度...
EDAX能譜儀 EDAX能譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2005年6月1日啟用。技術指標 1. 技術參數 EDX部 解析度 144eV 可檢測元素 C~U。主要功能 微區成分分析。
掃描電子顯微鏡和X射線能譜聯用儀是一種用於材料科學、安全科學技術領域的分析儀器,於2018年12月6日啟用。技術指標 二次電子解析度:3.0nm(加速電壓1kV,WD=3mm,放大倍率80,000x);能譜分析元素範圍:Be4-Am95。主要功能 套用...
按探針光子的能量,PES可以分為兩類:X射線光電子譜(XPS),能量範圍為100eV~10keV;紫外線電子譜(UPS)能量範圍為10eV~40eV。俄歇電子能譜儀 電子束轟擊材料表面,會產生表征元素種類及其化學價態的二次電子,這種二次電子稱為俄歇...
電子探針-能譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2014年8月18日啟用。技術指標 激發源:電子束; 檢測信號:螢光X射線 檢測方式:X射線波長(波動性)分光晶體 分析深度:微米量級 空間解析度:~1微米 元素範圍:(4Be)5B~92U...
X-螢光能譜儀是一種用於化學、材料科學、化學工程、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2015年5月1日啟用。技術指標 懸浮顆粒物過濾器 符合 RoHS 及 WEEE 的分析 法醫及痕量分析 營養補充劑 磁性介質和半導體 土壤污染 過濾...