掃描電子顯微鏡和X射線能譜聯用儀

掃描電子顯微鏡和X射線能譜聯用儀是一種用於材料科學、安全科學技術領域的分析儀器，於2018年12月6日啟用。

基本介紹

• 中文名：掃描電子顯微鏡和X射線能譜聯用儀
• 產地：日本
• 學科領域：材料科學、安全科學技術
• 啟用日期：2018年12月6日
• 所屬類別：分析儀器 > 顯微鏡及圖象分析儀器

技術指標

二次電子解析度：3.0nm（加速電壓1kV，WD=3mm，放大倍率80,000x）；能譜分析元素範圍：Be4－Am95。

主要功能

套用於火災物證鑑定和科研工作，以及防火阻燃材料研發工作。