| 中文名稱 | X射線分析器 |
| 英文名稱 | X-ray analyzer |
| 定 義 | 對X射線波長進行分析的儀器。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附屬檔案（三級學科） |
| 中文名稱 | X射線分析器 |
| 英文名稱 | X-ray analyzer |
| 定 義 | 對X射線波長進行分析的儀器。 |
| 套用學科 | 機械工程（一級學科），分析儀器（二級學科），能譜和射線分析儀器-能譜和射線分析儀器儀器和附屬檔案（三級學科） |
中文名稱 X射線分析器 英文名稱 X-ray analyzer 定義 對X射線波長進行分析的儀器。 套用學科 機械工程(一級學科),分析儀器(二級學科),能譜和射線分析儀器-能...
X射線分析(X-ray Analysis)是指以X射線為輻射源的分析方法統稱。主要包括X射線吸收法、X射線螢光法、X射線衍射法等。其中用於成分分析的X射線螢光法和用於結構...
利用初級X射線光子或其他微觀離子激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線)而進行物質成分分析和化學態研究的方法。按激發、色散和探測方法的不同,分為X射線...
X射線螢光分析是確定物質中微量元素的種類和含量的一種方法,又稱X射線次級發射光譜分析,是利用原級X射線光子或其它微觀粒子激發待測物質中的原子,使之產生次級的...
X射線晶體分析儀利用背射勞厄照相,底片安裝在晶體與射線源之間,而入射光束則在底片上的小孔通過,所記錄的為向後方向上的衍射光束,用衍射光束的方向來測量未知晶體...
X射線應力分析儀,可以方便測量材料中的殘留應力,是材料評價的好幫手。...... X射線應力分析儀,可以方便測量材料中的殘留應力,是材料評價的好幫手。 ...
測量試樣在各種條件下所發射的特徵X射線,或者是測定試樣的X射線衍射圖形,包括X射線衍射分析法、發射X射線譜法和吸收X射線譜法三類。 套用學科 機械工程(一級學科...
X射線螢光分析儀誕生至今,已發展到第三代。X 射線螢光光譜儀的不斷完善和發展所帶動的X 射線螢光分析技術已被廣泛用於冶金、地質、礦物、石油、化工、生物、醫療...
而能量色散型X射線螢光光譜儀則用解析度較高的半導體探測器和多道脈衝分析器代替晶體分光器和一般探測器。X射線螢光分析廣泛套用於鋼鐵、合金、礦石、玻璃、陶瓷、...
X射線分析技術,是一種藉助X射線來識別原子種類的高技術。由於它能夠分析出古代文物中的元素及其含量,受到了考古界和科技界的重視。其英文名稱縮寫為XRF。...
X射線光電子能譜技術(XPS)是電子材料與元器件顯微分析中的一種先進分析技術,而且是和俄歇電子能譜技術(AES)常常配合使用的分析技術。由於它可以比俄歇電子能譜技術...
X射線衍射相分析(phase analysis of xray diffraction)利用X射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。...
(3) 射線檢測器 檢測衍射強度或同時檢測衍射方向, 通過儀器測量記錄系統或計算機處理系統可以得到多晶衍射圖譜數據。(4) 衍射圖的處理分析系統 現代X射線衍射儀都...
《X射線分析結構》是2003年4月1日同濟大學出版社出版的圖書。本書主要介紹了X射線的基礎知識、分析方法以及套用領域。...
X射線螢光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線,它包含了被分析樣品化學組成的信息,通過對上述X射線螢光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線螢光...
《X射線結構分析》是9787年同濟大學出版社出版的圖書,作者是祁景玉。《X射線結構分析》可以作為大學本科生、研究生的教學用書,並可作為地質、岩礦、材料、理化等...
根據物質中各元素所輻射的特徵X射線譜的波長和強度,來測定元素成分的分析方法。用高速電子流轟擊原子內層電子,並產生電子躍遷,使其發生特徵X射線,通過波長色散或能量...
電子探針X射線顯微分析儀,簡稱電子探針。是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特徵X射線,並根據X射線的波長和強度,對微區成分進行定性或定量分析的一種...
它利用放射性同位素如238 Pu、241 Am、109 Cd等代替X射線管作為激發源激發樣品中待測元素產生X射線螢光,用平衡吸收濾波器或能譜儀分辨與測量。這種儀器體積小、...
中文名稱 X射線顯微分析 英文名稱 X-ray microanalysis 定義 套用X射線顯微分析器探測細胞或組織的微小區域內元素成分的技術。 套用學科 細胞生物學(一級學科),...
X射線螢光分析法(X-ray fluorescence analysis),嗓子對固體或液體試樣進行化學分析的一種非破壞性物理分析法。試樣在強X射線束照射下產生的螢光X射線被已知高點陣...
X射線衍射分析。將具有一定波長的X射線照射到結晶性物質上時,X射線因在結晶內遇到規則排列的原子或離子而發生散射,散射的X射線在某些方向上相位得到加強,從而顯示與...
X-射線光電子能譜儀,是一種表面分析技術,主要用來表征材料表面元素及其化學狀態。其基本原理是使用X-射線,如Al Ka =1486.6eV,與樣品表面相互作用,利用光電效應,...
小布拉格在用特徵X射線分析了一些鹼金屬鹵化物的晶體結構之後,與其父親合作,成功...[11] 、使氣體電離、使感光乳膠感光,故X射線可用電離計、閃爍計數器和感光乳膠...
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品,使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子...
ROHS螢光分析儀——高靈敏度高精度測定有害物質,第三代3DFAMILYX射線螢光分析儀來自於中國儀器超市,採用世界上最先進的矽SIPIN探測器(解析度為150ev),實現了無液態...
利用晶體對X射線的衍射效應來分析、鑑別結晶物質物相的一種方法。...... 利用晶體對X射線的衍射效應來分析、鑑別結晶物質物相的一種方法。中文名 X射線物相分析法...
順序式X射線螢光光譜儀,成份分析儀器,主要用於各種岩礦和建材的分析。...... 順序式X射線螢光光譜儀,成份分析儀器,主要用於各種岩礦和建材的分析。中文名 順序式X...
EDX,全稱:Energy Dispersive X-Ray Spectroscopy,能量色散X射線光譜儀...... X-Ray Spectroscopy,能量色散X射線光譜儀 中文...器以後變成電壓脈衝供給多脈衝高度分析器...