螢光光譜分析系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年7月20日啟用。
基本介紹
- 中文名:螢光光譜分析系統
- 產地:美國
- 學科領域:材料科學
- 啟用日期:2016年7月20日
- 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器
螢光光譜分析系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年7月20日啟用。
螢光光譜分析系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年7月20日啟用。技術指標波長範圍 185-2600nm 靈敏度 10000:1(350激發,397發射,水的拉曼峰) 採樣率 1000點/秒~1點/100秒 ...
現代X射線螢光光譜分析儀由以下幾部分組成:X射線發生器(X射線管、高壓電源及穩定穩流裝置)、分光檢測系統(分析晶體、準直器與檢測器)、記數記錄系統(脈衝輻射分析器、定標計、計時器、積分器、記錄器)。不同元素具有波長不同的...
螢光光譜綜合測試系統是一種用於物理學、材料科學領域的物理性能測試儀器,於2015年11月22日啟用。技術指標 脈衝激發源:納秒燈(N)、微秒/毫秒燈;連續激發源:氙燈、X光、雷射(980/808/375 nm)測量波長範圍:200-1700 nm; 樣品...
近紅外螢光光譜系統是一種用於數學領域的分析儀器,於2017年3月1日啟用。技術指標 1. NRV-640ST InGaAs 面陣探測器? 640x512 像素; -65 度液體致冷,ST型適於短曝光時間信號.2. PYLON-400BRX液氮製冷型 可見近紅外光譜型CCD,...
《X射線螢光光譜儀在線上自動分析系統》是由地質礦產部 瀋陽綜合岩礦測試中心擔任第一完成單位,由才書林、郭玉林、李潔擔任主要完成人的科研項目。成果信息 成果摘要 本在線上自動分析系統用IBM386計算機取代了Rigaku 3080型X射線螢光光譜儀原來...
穩態瞬態螢光光譜儀系統是一種用於化學、生物學、藥學領域的分析儀器,產地為英國,於2015年11月13日啟用。技術指標 1、信噪比>12000:1 2、檢測波長範圍:200~1700nm 3、螢光壽命測試範圍:100ps~50us 4、磷光壽命測試範圍:1us~...
陰極螢光光譜系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2013年7月4日啟用。技術指標 解析度:10nm 移動範圍:8X8 mm2 變溫範圍:10K-300K。主要功能 可進行表面形貌觀測、變溫陰極螢光測試、多尺度多自由度雙探針注入發光等。
螢光磷光光譜系統是一種用於化學領域的分析儀器,於2015年12月20日啟用。技術指標 1靈敏度(信噪比)≥12000:1 2波長最小解析度:≤0.05nm,波長準確度:±0.2nm,波長重現性: ±0.1nm 3檢測器 半導體製冷型單光子計數PMT檢測器...
同時,X 射線螢光光譜儀也是野外現場分析和過程控制分析等方面首選儀器之一。產品特點 1、在測定微量成分時,由於X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,致使目標峰的觀測比較困難。為了降低或消除背景和特徵譜線等的散射X...
原子螢光光譜分析法(AFS,Atomic fluorescence spectrometry),是利用原子螢光譜線的波長和強度進行物質的定性及定量分析方法,是介於原子發射光譜(AES)和原子吸收光譜(AAS)之間的光譜分析技術。簡介 原子螢光光譜分析法的基本原理是原子...
X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長...
而且,由於無需分光系統,樣品可以緊靠著探測器,光程大大縮短,X射線探測的幾何效率可提高2~3個數量級,因而靈敏度大大提高,對激發源的強度要求則相應降低。所以,整個譜儀的結構要比波長色散譜儀簡單得多。作為激發源的X射線管,其...
高分辨螢光光譜儀是一種用於化學、化學工程、材料科學領域的分析儀器,於2019年4月12日啟用。技術指標 1、螢光激發和發射光譜、同步掃描譜、多波長對動態掃描等 2、螢光測試區間:200-2000nm,不間斷 3、光譜解析度:0.05-20nm 4、...
螢光光譜分析儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2014年1月1日啟用。技術指標 動態範圍:≥1?x?106?cps 背底噪聲:≤?0.4?cps 線性範圍:≥7?x?105?cps。主要功能 除了H,He,Li,Be外,可對周期表中從5B到92U作元素...
光譜測量範圍:240nm~850nm 靈敏度:水喇曼信噪比4000:1(397nm/5nm bandpass)壽命回響範圍:10ps~10μs 新型型號 x射線螢光光譜儀 主要用途 儀器是較新型X射線螢光光譜儀,具有重現性好,測量速度快,靈敏度高的特點。能分析F(9...
全自動外泌體螢光檢測分析系統是一款無需純化的、全自動的可對單個外泌體進行表征分析的全新設備。簡介 NanoView公司所開發的 設備能夠提供全方位的外泌體表徵信息,包括外泌體粒徑大小、計數、分布、攜帶蛋白表達、生物標誌物(CD9,CD...
X射線螢光光譜分析儀是一種用於化學工程領域的分析儀器,於2015年6月11日啟用。技術指標 儀器測量線性誤差:Cd:7.7%;儀器測量重複性: Cd:1.5%;線性誤差的擴展不確定度:U=5%,k=2。主要功能 不同元素具有波長不同的特徵X射線...
主要功能 研究DNA、蛋白質和病毒的動態、剛性以及結構信息;監視空氣、水、土壤中痕量有機、無機、有毒、致變和致癌物質;進行藥物分析、膽固醇、蛋白質、維生素和DNA等的分析;利用螢光失蹤劑技術研究動態的生物學過程等。
多功能同位素螢光分析系統 多功能同位素螢光分析系統是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2017年1月1日啟用。技術指標 高通量、高靈敏度、高解析度,多重模式、靈活套用、操作靈便。主要功能 螢光及同位素成像分析。
納米螢光光譜成像系統是一種用於物理學領域的分析儀器,於2016年12月1日啟用。技術指標 光譜儀: 類型:透射光柵 光譜範圍 400 nm – 1,000 nm 光譜解析度2.8 nm (with 30 μm Slit) 光譜儀集成CCD: 類型:EMCCD 像素尺寸: ...
X螢光光譜測量系統是一種用於地球科學、材料科學、核科學技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2010年11月9日啟用。技術指標 ≥500道,4KW,160mA/60KV。主要功能 對礦物樣品、合金樣品、土壤樣品、等固體樣品以及液體樣品...
能量色散螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、能源科學技術領域的分析儀器,於2010年4月1日啟用。技術指標 1 X射線發生器: 管靶-Rh標配;電壓範圍4-50 kV;濾光片:七個濾光片+直接激發;2 基本性能:穩定性RSC0.3%,8h;靈敏度...
輸出波動≤±0.0001% 角度準確度:≤±0.001° 角度重現性:<±0.0001° 定位方式:θ/2θ分別驅動,光學定位,無機械磨損 檢測系統:全真空掃描。主要功能 固體、粉末樣品、難溶樣品的常量、微量、痕量元素分析測定。
X螢光光譜儀(XRF)由激發源(X射線管)和探測系統構成。X射線管產生入射X射線(一次X射線),激發被測樣品,產生X螢光(二次X射線),探測器對X螢光進行檢測。技術原理 受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,並且不同的...
光螢光測試系統是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2014年6月16日啟用。技術指標 ①焦長550nm ②F數:f/6.4 ③解析度0.025nm ④光譜色散1.34nm/mm ⑤光柵尺寸76mm×76mm。主要功能 將探測到的光信號強度轉換成電信號,...
《X射線螢光光譜分析(第二版)》是2015年5月化學工業出版社出版的圖書,作者是羅立強、詹秀春、李國會。內容簡介 《X射線螢光光譜分析(第二版)》系統闡述了X射線螢光光譜分析(XRFS)基本原理,介紹了XRFS光譜儀及主要組成部件,特別...
1923年,瑞典的赫維西(G von Hevesy)提出了套用X射線螢光光譜進行定量分析,但由於受到當時探測技術水平的限制,該法並未得到實際套用,直到20世紀40年代後期,隨著X射線管、分光技術和半導體探測器技術的改進,X螢光分析技術才進入快速發展...
檢測器(Detector)接受這些X光,儀器軟體系統將其轉為對應的信號。這一現象廣泛用於元素分析和化學分析,特別是在研究金屬,玻璃,陶瓷和建築材料,以及在地球化學研究、法醫學、電子產品進料品管(EURoHS)和考古學等領域,在某種程度上與...
高速螢光定量分析系統是一種用於基礎醫學、藥學領域的分析儀器,於2015年12月30日啟用。技術指標 1.工作條件1.1工作電壓:230V(+6%/-10%),50Hz(+/-1%)1.2工作溫度:17C-23C1.3工作濕度:主要功能 本系統主要用於細胞...