光螢光測試系統

光螢光測試系統是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器，於2014年6月16日啟用。

基本介紹

• 中文名：光螢光測試系統
• 產地：法國
• 學科領域：電子與通信技術
• 啟用日期：2014年6月16日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 光譜成像儀

技術指標

①焦長550nm ②F數：f/6.4 ③解析度0.025nm ④光譜色散1.34nm/mm ⑤光柵尺寸76mm×76mm。

主要功能

將探測到的光信號強度轉換成電信號，實現光譜成像，可用於分析光源的波長成分。