手動表面輪廓儀是一種用於物理學、材料科學領域的儀器,於2011年12月28日啟用。
基本介紹
- 中文名:手動表面輪廓儀
- 產地:中國
- 學科領域:物理學、材料科學
- 啟用日期:2011年12月28日
手動表面輪廓儀是一種用於物理學、材料科學領域的儀器,於2011年12月28日啟用。
表面輪廓儀是基於windows系統為操作平台,具有強大數據處理分析功能的測量儀器。儀器介紹 簡介 LK-200M型表面輪廓儀採用廣精精密最新的基於windows版本的測量軟體,具有強大卓越的數據處理分析功能。測量時,零件裝夾位置即使任意放置,也能得到...
光學3D表面輪廓儀是一種用於機械工程領域的計量儀器,於2019年11月5日啟用。技術指標 1.光源:白光LED; 2.影像系統:1024*1024pixel; 3.物鏡塔台:3孔; 4.XY平台:尺寸320*200mm,行程140*100mm,手動電動兼容,閉環反饋控制; ...
掃描三維表面輪廓儀是一種用於化學領域的物理性能測試儀器,於2013年11月12日啟用。技術指標 接觸式橫向掃描範圍:150mm(3D掃描範圍150mm×150mm)大尺寸納米級平整測量平台:150mm×150mm接觸式最大樣品高度:50mm(或100mm)光學膜厚...
3D表面輪廓儀 3D表面輪廓儀是一種用於動力與電氣工程領域的物理性能測試儀器,於2014年09月29日啟用。技術指標 掃描量程3nm以上,帶分析軟體。主要功能 對物體表輪廓進行掃描分析。
非接觸式表面輪廓儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器,於2011年09月08日啟用。技術指標 1、計算機軟體控制樣品台移動。 2、帶有Phase-Shift 和vertical scan 功能 3、最大Z 軸掃描範圍:20mm 。 4、垂直解析度:0。001 nm ...
3D光學表面輪廓儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器,於2017年9月26日啟用。技術指標 縱向掃描範圍:150 μm精密壓電陶瓷掃描,20mm擴展掃描;表面形貌重複性:<0.2nm;RMS重複性:0.01nm;採用 3D非接觸式測量。主要功能 Z...
非接觸三維表面輪廓儀是一種用於物理學、化學領域的物理性能測試儀器,於2015年10月9日啟用。技術指標 垂直測量量程: 0.1 nm至250 um 精密壓電陶瓷掃描 垂直方向的解析度: 0.1 nm RMS測量的重複性: 0.01 nm 橫向解析度: 不...
光學表面輪廓儀是一種用於材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2009年11月27日啟用。技術指標 1. 垂直測量範圍:0.1nm 至 1mm2. 垂直解析度:主要功能 光學輪廓儀提供精確、非接觸表面測量,可運用於微機械系統、薄膜、光學器件...
白光干涉3D表面輪廓儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月17日啟用。技術指標 1、白光干涉垂直掃描技術要求:垂直掃描範圍:0-150m(壓電陶瓷掃描)縱向解析度:0~150um範圍內≤0.1nm 2、擴展掃描範圍:150um~15mm(...
三維光學表面輪廓儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2018年12月31日啟用。技術指標 測量光束直徑:6″;光路:菲索型,共光路;快速條紋採樣系統(QFAS) (雙光點定位於十字線);光學中心線:4.25″(108mm);雷射光源:氦-氖雷射,Ⅲ...
三維非接觸式光學表面輪廓儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器,於2014年12月10日啟用。技術指標 垂直測量範圍27mm 垂直解析度2nm X-Y掃描速度20mm/s。主要功能 各種化學電源的電極、催化劑和關鍵膜材料的表面形貌、粗糙度、表面...
探針表面輪廓儀 探針表面輪廓儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器,於2017年1月1日啟用。技術指標 描長度:50mm樣品厚度:20mm垂直量程:400um電源:220V/50Hz。主要功能 薄膜厚度測試。
三維表面輪廓儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2019年9月9日啟用。技術指標 垂直掃描範圍 150um壓電陶瓷驅動,20mm擴展掃描 重複性 <0.1nm RMS重複性 0.01nm 橫向分辨 空間採樣 0.30um(100X物鏡) 0.04um(100x物鏡,2倍...
觸針式表面電動輪廓儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的計量儀器,於2014年1月1日啟用。技術指標 (0.1~22)mm,(1~0.015)%;(22~1000)mm,(0.02~0.1)% ≤3%。主要功能 計量檢定校準及檢測服務。