三維光學表面輪廓儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2018年12月31日啟用。
三維光學表面輪廓儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2018年12月31日啟用。技術指標測量光束直徑：6″;光路：菲索型，共光路;快速條紋採樣系統(QFAS) (雙光點定位於十字線);光學中心線：4.25″（108mm）;...
光學3D表面輪廓儀是一種用於機械工程領域的計量儀器，於2019年11月5日啟用。技術指標 1.光源：白光LED； 2.影像系統：1024*1024pixel； 3.物鏡塔台：3孔； 4.XY平台：尺寸320*200mm，行程140*100mm，手動電動兼容，閉環反饋控制； ...
3D光學表面輪廓儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器，於2017年9月26日啟用。技術指標 縱向掃描範圍：150 μm精密壓電陶瓷掃描，20mm擴展掃描；表面形貌重複性：＜0.2nm；RMS重複性：0.01nm；採用 3D非接觸式測量。主要功能 Z...
三維光學輪廓儀是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器，於2015年12月30日啟用。技術指標 垂直測量範圍 27mm 垂直解析度 2nm X-Y掃描速度 20mm/s 橫向X-Y軸解析度 0.1μm 掃描範圍（XYZ） 150*150*60mm。主要功能 對各種固體...
三維表面輪廓儀是一種用於物理學領域的計量儀器，於2019年9月9日啟用。技術指標 垂直掃描範圍 150um壓電陶瓷驅動，20mm擴展掃描 重複性 ＜0.1nm RMS重複性 0.01nm 橫向分辨 空間採樣 0.30um(100X物鏡) 0.04um(100x物鏡，2倍...
非接觸式三維光學輪廓儀是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2017年8月31日啟用。技術指標 1、垂直測量範圍： 0.1nm至 10 mm，全量程閉環掃描，可連續測量0.1nm到10mm Z向起伏樣品，無需縫合拼接，垂直方向的解析度：< ...
表面粗糙度輪廓儀的接觸式，即採用觸針法。觸針法又稱針描法，它是將一個很尖的觸針(半徑可以做到微米量級的金剛石針尖)垂直安置在被測表面上作橫向移磯觸針將隨著被測表面輪廓形狀作垂直起伏運魂將這種微小位移通過電路轉換成電信號...
非接觸光學輪廓儀是一種用於機械工程領域的分析儀器，於2006年1月12日啟用。技術指標 NT1100可對表面進行快速、重複性高、高解析度的三維測量，測量範圍可從亞納米級粗糙度到毫米級的台階高度。小尺寸的NT1100可提供工業標準的Wyko光學...
攜帶型輪廓儀 攜帶型輪廓儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的特種檢測儀器，於2016年4月7日啟用。技術指標 ≤240*240*80mm/≤4.6kg。主要功能 檢測。
非球面輪廓儀的測針在驅動器的作用下可沿X、Y和Z方向移動，測針系統則使得測針的擺動角度能得到精確測量。進行測量時，測針的針尖接觸光學元件表面，沿特定路徑移動，在此過程中對若干點的高度信息進行採樣。所有採樣點的矢高信息經過...
探針式輪廓儀 探針式輪廓儀是一種用於化學、材料科學、電子與通信技術、化學工程領域的分析儀器，於2017年01月16日啟用。技術指標 縱向解析度：0.1nm，掃描範圍100mm*100mm。主要功能 分析樣品表面大尺寸三維形貌，探測樣品厚度。
≤0.75% 台階測量重複率 ≤0.1%, 最大可拼接直徑 ≤φ50 mm 物鏡 2.5倍 20倍 目鏡 0.5倍， 1倍，2倍。主要功能 光學輪廓儀可對物體進行非接觸表面測量，其顯示精度可達亞納米級，同時可對工件進行納米級表面粗糙度測量。
關注領域包括：雷射器，雷射技術，光電子器件和系統，光電子技術，測量與檢測，光學儀器，光通信，材料，薄膜，全息，微納光學，表面光學，集成光學，太赫茲光學，超快光學，紅外，雷射套用，非線性光學，生物醫學光子學等。《Chinese Optic...
白光光學輪廓儀是一種用於物理學領域的計量儀器，於2013年12月20日啟用。技術指標 掃描頭內部集成的±6°傾斜調製系統 集成最新一代高亮度雙LED光源，FOV自動轉動塔台 放大倍率物鏡：2.5×,20×,50×; 固定倍率目鏡：0.55×,1×, ...
在微觀尺度上，結合SEM試驗和分形理論，獲得了不同磨耗集料的表面微觀形貌特性；使用光學表面輪廓儀進行了集料微觀構造形貌參數與抗滑性能的相關性分析；利用能譜分析確定了岩樣的化學元素成分及其相對含量，採用XRD試驗進行集料的物相分析...
