三維光學輪廓儀是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2015年12月30日啟用。
基本介紹
- 中文名:三維光學輪廓儀
- 產地:美國
- 學科領域:材料科學、機械工程
- 啟用日期:2015年12月30日
- 所屬類別:分析儀器
三維光學輪廓儀是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2015年12月30日啟用。
三維光學輪廓儀是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2015年12月30日啟用。技術指標垂直測量範圍 27mm 垂直解析度 2nm X-Y掃描速度 20mm/s 橫向X-Y軸解析度 0.1μm 掃描範圍(XYZ)...
三維輪廓儀是一種用於信息科學與系統科學、電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2015年12月24日啟用。技術指標 1、三軸移動方式:xy軸為電動控制,z軸為自動控制;2、測量點陣解析度:1360*1024pixels;3、四種光源;4、同時具備共聚焦...
三維光學表面輪廓儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2018年12月31日啟用。技術指標 測量光束直徑:6″;光路:菲索型,共光路;快速條紋採樣系統(QFAS) (雙光點定位於十字線);光學中心線:4.25″(108mm);雷射光源:氦-氖雷射,Ⅲ...
非接觸式三維光學輪廓儀是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2017年8月31日啟用。技術指標 1、垂直測量範圍: 0.1nm至 10 mm,全量程閉環掃描,可連續測量0.1nm到10mm Z向起伏樣品,無需縫合拼接,垂直方向的解析度:< ...
攜帶型輪廓儀 攜帶型輪廓儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的特種檢測儀器,於2016年4月7日啟用。技術指標 ≤240*240*80mm/≤4.6kg。主要功能 檢測。
探針式輪廓儀 探針式輪廓儀是一種用於化學、材料科學、電子與通信技術、化學工程領域的分析儀器,於2017年01月16日啟用。技術指標 縱向解析度:0.1nm,掃描範圍100mm*100mm。主要功能 分析樣品表面大尺寸三維形貌,探測樣品厚度。
表面粗糙度是機械加工中描述表面微觀形貌最常用的參數,它反映的是機械零件表面的微觀幾何形狀誤差,隨著機械加工行業的發展表面粗糙度測量技術也得到長足進步,特別是70年代中後期,隨著微電子計算機套用的逐步普及和現代光學技術、雷射套用技術...
接觸式和非接觸式。接觸式採用接觸式測針,非接觸式採用光學感測器。按工作模式分 2D輪廓儀和3D輪廓儀。2D輪廓儀僅可提供輪廓信息。測量路徑為一條過光學元件頂點的直線。3D輪廓儀既可提供輪廓信息,也可提供三維面形信息。進行三維測量...
≤0.75% 台階測量重複率 ≤0.1%, 最大可拼接直徑 ≤φ50 mm 物鏡 2.5倍 20倍 目鏡 0.5倍, 1倍,2倍。主要功能 光學輪廓儀可對物體進行非接觸表面測量,其顯示精度可達亞納米級,同時可對工件進行納米級表面粗糙度測量。
261 9.5.2 三維光學輪廓儀 261 9.5.3 掃描電子顯微鏡(SEM) 262 9.5.4 透射電子顯微鏡(TEM) 262 9.5.5 X射線衍射(XRD) 263 9.5.6 X射線光電子能譜(XPS) 263 9.6 研究展望 263 參考文獻 264 ...