三維表面輪廓儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2019年9月9日啟用。
基本介紹
- 中文名:三維表面輪廓儀
- 產地:中國
- 學科領域:物理學
- 啟用日期:2019年9月9日
- 所屬類別:計量儀器 > 長度計量儀器
三維表面輪廓儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2019年9月9日啟用。
三維表面輪廓儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2019年9月9日啟用。技術指標垂直掃描範圍 150um壓電陶瓷驅動,20mm擴展掃描 重複性 <0.1nm RMS重複性 0.01nm 橫向分辨 空間採樣 0.30um(...
三維輪廓儀是一種用於信息科學與系統科學、電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2015年12月24日啟用。技術指標 1、三軸移動方式:xy軸為電動控制,z軸為自動控制;2、測量點陣解析度:1360*1024pixels;3、四種光源;4、同時具備共聚焦...
三維白光干涉輪廓儀是一種用於物理學、信息科學與系統科學、材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2014年12月23日啟用。技術指標 具有拼接大於100mm樣品的拼接能力,保證測試時間在40分鐘內.;不小於0.1nm到10mm,0.1nm(非理論值,現場...
三維光學表面輪廓儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2018年12月31日啟用。技術指標 測量光束直徑:6″;光路:菲索型,共光路;快速條紋採樣系統(QFAS) (雙光點定位於十字線);光學中心線:4.25″(108mm);雷射光源:氦-氖雷射,Ⅲ...
掃描三維表面輪廓儀是一種用於化學領域的物理性能測試儀器,於2013年11月12日啟用。技術指標 接觸式橫向掃描範圍:150mm(3D掃描範圍150mm×150mm)大尺寸納米級平整測量平台:150mm×150mm接觸式最大樣品高度:50mm(或100mm)光學膜厚...
三維光學輪廓儀是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2015年12月30日啟用。技術指標 垂直測量範圍 27mm 垂直解析度 2nm X-Y掃描速度 20mm/s 橫向X-Y軸解析度 0.1μm 掃描範圍(XYZ) 150*150*60mm。主要功能 對各種固體...
非接觸式三維光學輪廓儀是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2017年8月31日啟用。技術指標 1、垂直測量範圍: 0.1nm至 10 mm,全量程閉環掃描,可連續測量0.1nm到10mm Z向起伏樣品,無需縫合拼接,垂直方向的解析度:< ...
三維干涉輪廓儀是一種用於材料科學領域的電子測量儀器,於2014年1月1日啟用。技術指標 ? 最大直徑:6英寸; ? 採用雙光源技術:綠光和白光LED; ? Z方向掃描範圍:測量範圍0.1nm至 10mm; 解析度<0.1nm; ? RMS重複率:0....
B.三維輪廓儀,適用於動作捕捉、動畫、虛擬現實、教育、科研等套用領域。主要技術性能 技術性能:1、測量範圍:軸φ1-180mm,套不大於φ200mm,長度不大於220mm。2、示值誤差:1%± 0.1u。3、測量精度:不大於0.5u。4、氣浮工作...
接觸式輪廓儀 表面粗糙度輪廓儀的接觸式,即採用觸針法。觸針法又稱針描法,它是將一個很尖的觸針(半徑可以做到微米量級的金剛石針尖)垂直安置在被測表面上作橫向移磯觸針將隨著被測表面輪廓形狀作垂直起伏運魂將這種微小位移通過...
探針式輪廓儀 探針式輪廓儀是一種用於化學、材料科學、電子與通信技術、化學工程領域的分析儀器,於2017年01月16日啟用。技術指標 縱向解析度:0.1nm,掃描範圍100mm*100mm。主要功能 分析樣品表面大尺寸三維形貌,探測樣品厚度。
非接觸光學輪廓儀是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2006年1月12日啟用。技術指標 NT1100可對表面進行快速、重複性高、高解析度的三維測量,測量範圍可從亞納米級粗糙度到毫米級的台階高度。小尺寸的NT1100可提供工業標準的Wyko光學...
攜帶型輪廓儀 攜帶型輪廓儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的特種檢測儀器,於2016年4月7日啟用。技術指標 ≤240*240*80mm/≤4.6kg。主要功能 檢測。
光電輪廓儀的套用範圍很廣,它主要用於測量各種精密加工零件表面的微觀三維結構,如表面粗糙度;零件表面的刻線;刻槽的深度和鍍層的厚度等。具體地說,如量塊、光學零件表面的粗糙度;標尺、度盤的刻線深度;光柵的槽形結構;鍍層厚度和...
光學輪廓儀是一種用於電子與通信技術領域的儀器,於2016年11月25日啟用。技術指標 1單次測量市場:最大可達16.8*16.8mm2工作距離:40mm3縱向掃描範圍:150um,最大可擴展到20mm。主要功能 1微納結構的靜態三維形貌表征2器件輪廓動態...