掃描三維表面輪廓儀是一種用於化學領域的物理性能測試儀器，於2013年11月12日啟用。
掃描三維表面輪廓儀是一種用於化學領域的物理性能測試儀器，於2013年11月12日啟用。技術指標接觸式橫向掃描範圍：150mm(3D掃描範圍150mm×150mm)大尺寸納米級平整測量平台：150mm×150mm接觸式最大...
三維表面輪廓儀是一種用於物理學領域的計量儀器，於2019年9月9日啟用。技術指標 垂直掃描範圍 150um壓電陶瓷驅動，20mm擴展掃描 重複性 ＜0.1nm RMS重複性 0.01nm 橫向分辨 空間採樣 0.30um(100X物鏡) 0.04um(100x物鏡，2倍...
三維輪廓儀是一種用於信息科學與系統科學、電子與通信技術領域的電子測量儀器，於2015年12月24日啟用。技術指標 1、三軸移動方式：xy軸為電動控制，z軸為自動控制；2、測量點陣解析度：1360*1024pixels;3、四種光源；4、同時具備共聚焦...
3D表面輪廓儀 3D表面輪廓儀是一種用於動力與電氣工程領域的物理性能測試儀器，於2014年09月29日啟用。技術指標 掃描量程3nm以上，帶分析軟體。主要功能 對物體表輪廓進行掃描分析。
3D光學表面輪廓儀是一種用於機械工程領域的物理性能測試儀器，於2017年9月26日啟用。技術指標 縱向掃描範圍：150 μm精密壓電陶瓷掃描，20mm擴展掃描；表面形貌重複性：＜0.2nm；RMS重複性：0.01nm；採用 3D非接觸式測量。主要功能 Z...
三維光學輪廓儀是一種用於材料科學、機械工程領域的分析儀器，於2015年12月30日啟用。技術指標 垂直測量範圍 27mm 垂直解析度 2nm X-Y掃描速度 20mm/s 橫向X-Y軸解析度 0.1μm 掃描範圍（XYZ） 150*150*60mm。主要功能 對各種固體...
SuperView W1光學3D表面輪廓儀是一款用於對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。它是以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模組、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描並建立表面3D圖像，通過系統軟體對器件表面3D圖像...
(3)測量微觀表面輪廓時，為了保證掃描路徑方向上的精度和橫向解析度，進給步距很小，所以測量速度不高。接觸式表面粗糙度輪廓儀的工作原理 觸針式表面粗糙度輪廓儀由感測器、 驅動箱、指示表、 記錄器和工作檯等主要部件組成。電感感測器...
探針式輪廓儀 探針式輪廓儀是一種用於化學、材料科學、電子與通信技術、化學工程領域的分析儀器，於2017年01月16日啟用。技術指標 縱向解析度：0.1nm，掃描範圍100mm*100mm。主要功能 分析樣品表面大尺寸三維形貌，探測樣品厚度。
攜帶型輪廓儀 攜帶型輪廓儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的特種檢測儀器，於2016年4月7日啟用。技術指標 ≤240*240*80mm/≤4.6kg。主要功能 檢測。
小尺寸的NT1100可提供工業標準的Wyko光學輪廓儀所有的優點，包括完整的Vision分析軟體包。先進的光學元件可確保在所有放大倍數上具有亞納米級的垂直解析度。垂直解析度小於0.1nm，最大掃描速度為7.2微米/秒。主要功能 主要套用於表面輪廓...
光學輪廓儀是一種用於電子與通信技術領域的儀器，於2016年11月25日啟用。技術指標 1單次測量市場：最大可達16.8*16.8mm2工作距離：40mm3縱向掃描範圍：150um，最大可擴展到20mm。主要功能 1微納結構的靜態三維形貌表征2器件輪廓動態...
手動表面輪廓儀是一種用於物理學、材料科學領域的儀器，於2011年12月28日啟用。技術指標 1.掃描時最小正壓力:0.03mg；2.最佳垂直解析度:0.38A；3.Z測量重複精度:保證6A重複性(1μm台階標樣)；4.最大垂直測量範圍:不小於800μm...
白光掃描干涉輪廓儀是一種用於工程與技術科學基礎學科、機械工程、紡織科學技術領域的物理性能測試儀器，於2012年5月11日啟用。技術指標 垂直解析度（縱向） ＜0.1 nm Z軸調整≤350mm 精度0.11μm RMS重複精度 ≤0.01 nm RMS 垂直...
工件放到干涉顯微鏡工作檯面上，調整好乾涉條紋後，計算機操縱控制箱驅動移相器，對干涉條紋進行掃描，由C-MOS接收並傳給計算機，經專用軟體計算、分析處理後，在計算機螢幕上顯示出工件表面三維立體圖、截面圖和測量的數值結果，也可以列印或...
