三維白光干涉輪廓儀是一種用於物理學、信息科學與系統科學、材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2014年12月23日啟用。
基本介紹
- 中文名:三維白光干涉輪廓儀
- 產地:美國
- 學科領域:物理學、信息科學與系統科學、材料科學、機械工程
- 啟用日期:2014年12月23日
- 所屬類別:分析儀器
三維白光干涉輪廓儀是一種用於物理學、信息科學與系統科學、材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2014年12月23日啟用。
三維白光干涉輪廓儀是一種用於物理學、信息科學與系統科學、材料科學、機械工程領域的分析儀器,於2014年12月23日啟用。技術指標具有拼接大於100mm樣品的拼接能力,保證測試時間在40分鐘內.;不小於0.1nm到10mm...
白光光學輪廓儀是一種用於物理學領域的計量儀器,於2013年12月20日啟用。技術指標 掃描頭內部集成的±6°傾斜調製系統 集成最新一代高亮度雙LED光源,FOV自動轉動塔台 放大倍率物鏡:2.5×,20×,50×; 固定倍率目鏡:0.55×,1×, ...
表面粗糙度輪廓儀的接觸式,即採用觸針法。觸針法又稱針描法,它是將一個很尖的觸針(半徑可以做到微米量級的金剛石針尖)垂直安置在被測表面上作橫向移磯觸針將隨著被測表面輪廓形狀作垂直起伏運魂將這種微小位移通過電路轉換成電信號...
5.1.5 白光干涉定位技術 5.2 雷射干涉測振技術 5.2.1 雷射干涉測振系統校準原理 5.2.2 頻率比測振 5.2.3 貝塞爾函式測振 5.3 外差技術 5.3.1 外差測長原理 5.3.2 外差測長的關鍵技術 5.3.3 外差測長的套用 5....
白光干涉三維輪廓儀是一種用於信息科學與系統科學、自然科學相關工程與技術、信息與系統科學相關工程與技術領域的分析儀器,於2013年8月21日啟用。技術指標 縱向解析度0.1nm,縱向測量範圍10mm,最高橫向解析度:0.3um。主要功能 表面微觀...
白光干涉3D表面輪廓儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月17日啟用。技術指標 1、白光干涉垂直掃描技術要求:垂直掃描範圍:0-150m(壓電陶瓷掃描)縱向解析度:0~150um範圍內≤0.1nm 2、擴展掃描範圍:150um~15mm(...
1 共焦顯微鏡技術原理 6.2.2 共焦顯微鏡技術參數 6.2.3 共焦顯微鏡的改進 6.2.4 共焦顯微鏡的套用 6.3 白光干涉輪廓儀 6.3.1 白光干涉儀光路結構 6.3.2 白光干涉儀原理 6.3.3 白光干涉儀套用 參考文獻 ...