非接觸三維表面輪廓儀是一種用於物理學、化學領域的物理性能測試儀器,於2015年10月9日啟用。
基本介紹
- 中文名:非接觸三維表面輪廓儀
- 產地:美國
- 學科領域:物理學、化學
- 啟用日期:2015年10月9日
- 所屬類別:物理性能測試儀器 > 光電測量儀器
非接觸三維表面輪廓儀是一種用於物理學、化學領域的物理性能測試儀器,於2015年10月9日啟用。
非接觸式三維光學輪廓儀是一種用於電子與通信技術領域的電子測量儀器,於2017年8月31日啟用。技術指標 1、垂直測量範圍: 0.1nm至 10 mm,全量程閉環掃描,可連續測量0.1nm到10mm Z向起伏樣品,無需縫合拼接,垂直方向的解析度:< ...
接觸式輪廓儀 表面粗糙度輪廓儀的接觸式,即採用觸針法。觸針法又稱針描法,它是將一個很尖的觸針(半徑可以做到微米量級的金剛石針尖)垂直安置在被測表面上作橫向移磯觸針將隨著被測表面輪廓形狀作垂直起伏運魂將這種微小位移通過...
掃描三維表面輪廓儀是一種用於化學領域的物理性能測試儀器,於2013年11月12日啟用。技術指標 接觸式橫向掃描範圍:150mm(3D掃描範圍150mm×150mm)大尺寸納米級平整測量平台:150mm×150mm接觸式最大樣品高度:50mm(或100mm)光學膜厚...
光學輪廓儀是一種用於電子與通信技術領域的儀器,於2016年11月25日啟用。技術指標 1單次測量市場:最大可達16.8*16.8mm2工作距離:40mm3縱向掃描範圍:150um,最大可擴展到20mm。主要功能 1微納結構的靜態三維形貌表征2器件輪廓動態...
光學表面輪廓儀是一種用於材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2009年11月27日啟用。技術指標 1. 垂直測量範圍:0.1nm 至 1mm2. 垂直解析度:主要功能 光學輪廓儀提供精確、非接觸表面測量,可運用於微機械系統、薄膜、光學器件...
白光干涉3D表面輪廓儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2018年9月17日啟用。技術指標 1、白光干涉垂直掃描技術要求:垂直掃描範圍:0-150m(壓電陶瓷掃描)縱向解析度:0~150um範圍內≤0.1nm 2、擴展掃描範圍:150um~15mm(...
輪胎與路面的微觀摩擦不僅與表面勢能相關還和異戊二烯分子形態有關。 然後使用非接觸式光學表面輪廓儀採集不同集料的表面微觀構造形貌,計算多種反映表面形貌不同方面特徵的參數,通過這些參數檢驗不同集料間的表面微觀構造差異性,並測量不...