探針表面輪廓儀

探針表面輪廓儀是一種用於工程與技術科學基礎學科領域的分析儀器，於2017年1月1日啟用。

基本介紹

• 中文名：探針表面輪廓儀
• 產地：美國
• 學科領域：工程與技術科學基礎學科
• 啟用日期：2017年1月1日
• 所屬類別：分析儀器 > 電子光學儀器

技術指標

描長度：50mm樣品厚度：20mm垂直量程：400um電源：220V/50Hz。

主要功能

薄膜厚度測試。