300KV電子顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2017年5月1日啟用。
基本介紹
- 中文名:300KV電子顯微鏡
- 產地:美國
- 學科領域:數學
- 啟用日期:2017年5月1日
- 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器
300KV電子顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2017年5月1日啟用。
300KV電子顯微鏡是一種用於數學領域的分析儀器,於2017年5月1日啟用。技術指標1. 燈絲類型:高亮度Schottky field emission gun (X-FEG)2.物鏡類型:C-Twin3. 點解析度:0...
大型透射電鏡(conventional TEM)一般採用80-300kV電子束加速電壓,不同型號對應不同的電子束加速電壓,其解析度與電子束加速電壓相關,可達0.2-0.1nm,高端機型可實現原子級分辨。低壓透射電鏡 低壓小型透射電鏡(Low-Voltage electron ...
另一種解決的方法就是通過濾掉非彈性散射電子來減少電子束對樣品的損傷,對於較厚的樣品可以使用較高的加速電壓比如300KV以增加其穿透能力。斷層成像 電子斷層成像術的主要優勢在於解決不具備周期性或全同性的生物大分子複合體系或細胞器的...
聚焦離子束掃描電子顯微鏡是一種用於材料科學、化學、物理學、航空、航天科學技術領域的分析儀器,於2013年10月21日啟用。技術指標 SEM 解析度:高真空:3.0nm(30kV);10nm(3kV) 低真空:4.0nm(30kV) 放大倍數: 5-300,000 ...
掃描式電子顯微鏡是一種用於材料科學、紡織科學技術領域的分析儀器,於2016年10月28日啟用。技術指標 放大倍數:5-300000倍;解析度:高真空:3nm(30KV)/8nm(3KV)/15nm(1KV) 低真空:4.0nm(30KV) ;電子槍:全自動,亦可手動調整...
JEOL掃描式電子顯微鏡是一種用於機械工程領域的分析儀器,於2018年7月13日啟用。技術指標 高真空解析度 3.0nm in SEI (二次電子圖像)|JSM-IT300 解析度高真空模式 3.0 nm (30 kV) 8.0nm(3.0 kV) 15.0 nm(1.0 kV) ...
JEOL掃描電子顯微鏡是一種用於生物學、物理學、化學、基礎醫學領域的分析儀器,於2019年7月6日啟用。技術指標 電子光學系統 二次電子解析度 3.0nm@30kV;8.0nm@3kV;15nm@1kV(鎢燈絲) 2.0nm@30kV;6.0nm@3kV;9nm@1kV(六硼化...
使用的加速電壓可高達200~1000 kV (普通透射電子顯微鏡是50~100 kV)的一種透射電子顯微鏡。所加速的電子束可穿透較厚(可達2μm,相當於普通透射電子顯微鏡的20倍)的樣品,若以精確傾角掃描,經計算機處理可獲得樣品的三維圖像。出處 ...
張錦平在電子顯微學方面積累了三十餘年的豐富經驗,為本科生、研究生主講電子顯微鏡和電子衍射等方面的課程,先後執掌過七台透射電子顯微鏡的運行管理、教學研究,包括FEI Titan FEG-300 KV, FEI Tecnai FEG 300 KV, 全美第一台冷場...
傳統TEM多採用80-300kV電子束加速電壓,高能電子束不能區分輕材料中相近的密度和原子序數,對於輕元素樣品(C、N、O樣品,生物樣品)難以獲得好的對比度,影響圖像質量。低壓小型透射電鏡採用低電壓設計,低電壓電子束對密度和原子序數有...
200KV場發射電子顯微鏡是一種用於數學領域的計量儀器,於2017年7月1日啟用。技術指標 1. 燈絲類型:ZrO/W (100) Schottky field emission gun (S-FEG)2. 物鏡類型:C-Twin3. 點解析度:0.3nm4. 信息分辨極限:0.23nm5. 加速...
200kv場發射透射電子顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2019年1月19日啟用。技術指標 儀器配置:X-FEG場發射型電子槍 加速電壓:200 kV,160 kV, 80 kV 點解析度0.23 nm,信息極限可達0.14 nm;二級聚光鏡照明系統;高襯...
200KV透射電子顯微鏡是一種用於物理學、生物學、材料科學、能源科學技術領域的分析儀器,於2010年10月1日啟用。技術指標 LaB6熱槍,200kV加速電壓,放大倍數:50-1500000,束斑大小:0.5-5000nm,點解析度0.194nm。主要功能 材料的...
200KV生物冷凍透射電子顯微鏡是一種用於生物學、基礎醫學、藥學、材料科學領域的分析儀器,於2015年7月13日啟用。技術指標 肖特基場發射電子槍;20kV≤加速電壓≤200kV(軟體自由切換); 點解析度≤0.30nm;信息解析度≤0.20nm;STEM...
200kv冷凍透射電子顯微鏡是一種用於生物學領域的分析儀器,於2017年12月4日啟用。技術指標 加速電壓:20-200kV高壓,場發射電子槍; 點解析度≤0.3 nm;信息分辨極限0.15 nm; 低溫樣品台(可傾轉70度); 配置Ceta 4k×4k相機; ...
計算機控制掃描電子顯微鏡是一種用於能源科學技術、化學工程領域的分析儀器,於2014年10月31日啟用。技術指標 二次電子解析度不差於3.0nm @30kV、8.0nm @3kV和 15nm (1kV)背散射電子分0.3-30kV;放大倍數範圍:5X-300,000X。樣...
場發射電子顯微鏡系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2015年12月24日啟用。技術指標 200KV場發射透射電子顯微鏡,配備聚光鏡球差校正系統,能譜分析,STEM功能等。主要功能 解析度達原子水平的形貌分析;結合EDS,可做元素的線掃、面...
透射式電子顯微鏡 透射式電子顯微鏡是一種用於物理學、生物學、材料科學領域的分析儀器,於2006年12月15日啟用。技術指標 點解析度:0.23納米;放大倍數:2,000~1,500,000;加速電壓:最大200KV。主要功能 透射式電子顯微鏡。
6.中等電壓電子顯微鏡中等電壓200kV\,300kV電鏡的穿透能力分別為100kV的1.6和2.2倍,成本較低、效益/投入比高,因而得到了很大的發展。場發射透射電鏡已日益成熟。TEM上常配有鋰漂移矽Si(Li)X射線能譜儀(EDS),有的還配有電子...