高性能微區X射線螢光光譜儀

高性能微區X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器，於2018年10月26日啟用。

基本介紹

• 中文名：高性能微區X射線螢光光譜儀
• 產地：德國
• 學科領域：地球科學
• 啟用日期：2018年10月26日
• 所屬類別：分析儀器 > 光譜儀器 > 原子螢光光譜儀

技術指標

能滿足元素Na-U的成分分析；高分辨元素分布成像，像素達到25M pixels；Rh靶顯微X射線光管；多毛細管X射線光學，15±1um的光斑大小（Mo-K）；X射線管參數優於50kV，600μA；30mm2矽漂移探測器（SDD），能量解析度＜140eV@300kcps,；倉體內部尺寸≥600*350*260mm；空氣和真空下兩種環境下測量；採用無油真空泵無需液氮冷卻；全自動XYZ平台：尺寸≥330*170mm，移動速度≥100mm/sec，移動範圍≥200*155*120mm，最小步長≤4μm。配置10倍和100倍的放大鏡頭用於觀測樣品；自動聚焦樣品，能提供多點測量方案，保證結果一致性。

主要功能

1、對岩心、岩石、沉積物等多元素分布成像，尤其是對大塊樣品、不均勻樣品、不規則樣品、甚至小件樣品和包裹物進行高靈敏度的、非破壞性元素分析（Na11-U92）。 2、採用多導毛細管聚焦鏡將激發光聚焦到非常小的區域（＜20μm），以獲得極佳的空間解析度，能進行快速面掃描元素成像分析，迅速對樣品進行篩選，找出感興趣的樣品信息和位置。 3、任何類型的樣品都可以通過簡單的樣品製備甚至不製備直接進行分析。它不僅能對樣品做單點元素分析，且具備線、面掃描的功能，最大樣品掃描面積達 200*160mm，樣無需切割處理直接測量。