X-5000是一種體現X射線螢光分析技術最新進展的能量色散X射線螢光光譜儀。它採用低功率小型X光管為激發源，電製冷矽半導體探測器為探測單元，再加上我公司專門開發的套用軟體，充分發揮各部件的優異性能，保證了整台儀器的高解析度及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為之處。下面將該儀器的資料作簡單介紹。
基本介紹
- 中文名：X-5000ROHS檢測儀
- 電源：交流220V 50Hz
- 體積：520mm x 600mm x 270mm
- 重量：約 42kg （主機）
技術規格,技術性能,性能指標,電源規格,詳細參數,
技術規格
激發源：本機採用低功率 X 射線管（Mo靶），最高電壓可達50KV，最大電流1mA
高壓電源：最大50W，50KV，1mA
探測器：電製冷 Si PIN半導體探測器（Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，解析度優於149eV）
多道分析器：2048道
軟體：基於WINDOWS的強大工作軟體。定量分析包括：經驗係數法，理論a係數法和基本參數法。定性分析包括：KL線標記，譜圖比較和游標尋峰等。客戶可進行二次開發，自行開發任意多個分析方法。
技術性能
測量元素範圍寬：從鋁（13）至鈾（92）都可測量
測量含量範圍，從ppm至100%
測量速度快，通常為幾十秒到幾分鐘
多元素同時定性定量
蜂位漂移：八小時小於1%
性能指標
探測器類型：電製冷Si-PIN
探測面積：2.4x2.8mm（7mm）
矽活化區厚度：300um
探測器解析度：對於Fe，@5.9keV 對於12us的形成時間，半高寬為149Ev
探測器視窗：鈹窗，25um厚
電源規格
電壓和電流從零至滿量程連續可調，最大50KV，1mA
電壓調整率：負載調整率：從空載到滿載，電壓變化為滿量程的 0.01 %
線性調整率：對於規定的輸入電壓範圍，該數值為滿量程的0.01%
電流調整率：負載調整率：從空載到滿載，電流變化為滿量程0.01%
線性調整率：對於規定的輸入電流範圍，該數值為滿量程的0.01%
穩定性：經過半小時預熱後，每8小時變化不超0.05%
溫度係數：溫度變化一度，電壓變化不超過0.01%
詳細參數
定量測量範圍：Pb，Hg，Cr，Cd，Br
測量精度：低於100ppm時精確度15ppm，大於100ppm時，精確度15%
分析元素：Pb，Hg，Cr，Cd，Br
檢出限： Pb：3.2 mg/kg （ppm）
Hg：3.2 mg/kg （ppm）
Cr：4.1 mg/kg （ppm）
Cd：5.8 mg/kg （ppm）
Br：3.1 mg/kg （ppm）
測量時間：30秒——120秒可選
X射線源：X光管
工作環境溫度：10℃——45℃
工作環境濕度：20%——80%
高壓器：50Kv
作業系統：windows XP
