雷射納米粒度儀是一種用於預防醫學與公共衛生學領域的分析儀器，於2012年11月27日啟用。
雷射納米粒度儀是一種用於預防醫學與公共衛生學領域的分析儀器，於2012年11月27日啟用。技術指標 粒度測量範圍0.3nm~5μm，雷射光源：He—Ne雷射器，小於650nm 檢測器：採用高速數字相關器，4000通道，最小采時間25ns。主要功能 提供多種學術模型推算蛋白質構象，分子量，散射光強，計算粒徑和Zata電位測試所需要...
粒度儀可分為納米粒度儀，雷射粒度儀，單顆粒光阻法粒度儀和圖像粒度儀等。粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、雷射粒度儀、光學顆粒計數器、電阻式顆粒計數器、顆粒圖像分析儀等。分類介紹 雷射粒度儀 採用MIE散射原理的雷射粒度儀，假設被測...
納米雷射粒度儀採用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的布朗運動的速度測定顆粒大小。小顆粒布朗運動速度快，大顆粒布朗運動速度慢，雷射照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發生快慢不同的漲落起伏。光子相關光譜法就根據特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理先進、精度極高的...
納米顆粒儀用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，採用數字相關器的納米雷射粒度儀，其採用高速數字相關器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重複及測試準確等特點，是納米顆粒粒度測試的首選產品。原理 先進的測試原理：本儀器採用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒...
雷射顆粒儀是根據顆粒能使雷射產生散射這一物理現象測試粒度分布的。由於雷射具有很好的單色性和極強的方向性，所以一束平行的雷射在沒有阻礙的無限空間中將會照射到無限遠的地方，並且在傳播過程中很少有發散的現象。原理 當光束遇到顆粒阻擋時，一部分光將發生散射現象。散射光的傳播方向將與主光束的傳播方向形成一個...
粒度分析儀器是指當被測顆粒的某種物理特性或物理行為與某一直徑的同質球體（或其組合）最相近時，把該球體的直徑（或其組合）作為被測顆粒的等效粒徑（或粒度分布）的儀器設備。原理 1 .全量程米氏散射理論 winner 系列雷射粒度分析採用全量程米氏散射理論，充分考慮了分散介質和被測顆粒的折射率，結合專利的測量...
納米粒度分析儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2005年10月01日啟用。技術指標 1、檢測器：採用高信噪比的PMT光電倍增管檢測器或APD檢測器 2、分析時間：30-120秒 3、可根據樣品散射信號相對於樣品池等其他因素產生的散射干擾自動調節雷射強度，以獲得最佳信噪比（樣品散射信號相對於樣品池的散射干擾） 4...
BT-90動態光散射納米雷射粒度儀原理是當納米顆粒分散在液體中的時候，納米顆粒在液體分子布朗運動的撞擊下進行不規則的運動，顆粒越小，這種運動的速度越快，幅度越大；顆粒越大，運動速度越慢，幅度越小。當雷射束照射到納米顆粒上的時候將產生脈動的散射光信號，這些光信號強度的變化率與顆粒的運動狀態(速度和幅度)...
Winner2008D雷射粒度分析儀是一款適用於納米、亞微米、微米、毫米級顆粒的全量程寬分布顆粒粒度測試的智慧型型雷射粒度分析儀。產品簡介 它秉承了前期產品Winner2005雷射粒度儀的測試優勢和Winner2000ZD雷射粒度儀智慧型化的操作優勢，並融入了新的測試技術，拓寬了其測試範圍，使具有強大的普遍適用性，雙光束專利技術則保證了...
全自動雷射粒度儀 雷射粒度分布儀是一款新型的雷射粒度分布儀它的測試下線可以達到40納米，主向光電接收器共71個光電池最大探測角達21.5o；非均勻交叉排列的側向及後向光電接收器,共9個光電池，最大角度135o。優異的反傅立葉光學變換設計,結合獨特的光路一體化結構，使光路更加穩定；長期使用無須調整，有效的禁止與...
雷射粒度測定儀是一種用於化學工程領域的物理性能測試儀器，於2004年5月8日啟用。技術指標 分析範圍：0.4---1000um；0.04---2000um；準確性：＜1%；重現性：＜1%；解析度：可分辨峰粒徑比＞ 2.5的兩個峰；檢測器數目與分析通道數：132枚矽光電檢測器，116個分析通道；雷射光源：光纖固態雷射器，波長750nm...
全自動雷射粒度分布儀是最新研製的高性能雷射粒度儀，它具有測量範圍寬（0.04-600μm）、自動化程度高等特點。採用專門設計的由大規模積體電路工藝製造的大尺寸高靈敏度光電探測器陣列，有多達9個後向探測器，保證了測試下限達到40納米；自動攪拌、超聲、循環、進水、排水系統，使儀器實現了全自動智慧型化的操作；採用...
Winner7302線上顆粒粒度監測儀。☆產品簡介 Winner7302線上顆粒粒度監測儀是微納精心為您打造的高精度納米線上雷射粒度儀，採用最先進的會聚光傅立葉變換光路，克服了透鏡孔徑對散射角的限制，採用專利樣品池，增加側向及後向光電探測器的方式對各個方位的散射（前向、側向以及後向）光信息進行全面的採集，精確而有效地...
納米顆粒測試必須採用“動態光散射”技術，而實現此技術的重要部件--相關器一直由國外壟斷，Winner納米雷射粒度分析儀率先打破了此項技術的國際壟斷，為國內填補了技術空白，可測試1-3500nm大小的顆粒。套用 ---雷射粒度分析儀在黃河水文泥沙顆粒分析中的套用 雷射粒度分析儀採用濕法分散技術,具有操作簡便、輸出數據直觀...
LBT-BT2003雷射粒度儀是高性能的雷射粒度儀。它的測試範圍達到0.04-1000微米，具有自動調整光路焦距、自動對中、自動給排水、超聲定時、流量可調等特殊功能。基本介紹 此外，它的軟體系統功能更強、更靈活，是一種自動化程度更高、使用更方便、性能更好的粒度分布儀。它採用進口的半導體雷射器，功率大、壽命長、單色...
Bettersize2000雷射粒度儀，是一種採用單光束雙鏡頭技術的智慧型型雷射粒度儀，其中測試範圍達0.02-2000μm，所有操作全部在電腦控制下自動完成，並具有自動測試、自動光路校準（自動對中）、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗、自動列印和自動保存等特殊功能。產品簡介 Bettersize2000雷射粒度儀是一種採用單光束雙...
15°1.6溫控範圍：5-100℃,±0.1℃;1.7電極：永久型平板式電極，可重複使用，避免電滲運動的影響，避免交叉污染。1.8雷射器：35mW固體雷射器，帶有獨立的溫度與電流控制系統。1.9檢測器：雪崩式光電二極體（APD）或者光電倍增管（PMT）;1.10 電導率範圍 0-700mS/m。主要功能 測量膠體顆粒表面電位電勢。
雷射納米粒度及Zeta電位分析儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2009年12月16日啟用。技術指標 最大粒徑範圍：0.3 nm - 10 μm ；濃度範圍： 0.1ppm – 40% w/v；檢測角度：175o 和 12.8o； Zeta電位範圍：無實際限制 ；電泳遷移率：0 – 無實際上限；最大樣品電導率：300mS/cm；最大樣品濃度：40...
該設備是一款適用於納米、亞微米、微米、毫米級顆粒的全量程寬分布顆粒粒度測試的智慧型型雷射粒度分析儀。它融入了新的測試技術，拓寬了其測試範圍，使具有強大的普遍適用性，雙光束專利技術則保證了微小顆粒測試精度，可以滿足不同行業對雷射粒度儀的測試要求。特點 1.全新的測試原理：該款儀器在採用經典Mie氏散射原理...
小顆粒布朗運動速度快，大顆粒布朗運動速度慢，雷射照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發生快慢不同的漲落起伏。光子相關光譜法就根據特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理先進、精度極高的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性。是納米激顆粒粒度測定的首選儀器；◆高靈敏度與信噪比：本...
全自動雷射粒度分析儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2017年03月22日啟用。技術指標 1、對光和校正：無需對光和校正。 2、進樣系統：全自動樣品前處。 3、中心區角度：極小的中心角度，小於0.005度。 4、最大檢測角度：165度。 5、雷射功率：9mw。 6、濕法進樣系統：全自動連線液體介質，無需手動添加...
Winner2005A雷射粒度分析儀是一款雷射粒度分析儀。儀器簡介 該產品採用先進的測試原理、獨特的計算模式以及權威的校準方式，使該款儀器具有測試結果準確、測試重複性好、解析度高等突出優點，是寬分布顆粒粒度測試的最佳選擇。產品特點 先進的測試原理 採用最先進的會聚光傅立葉變換光路，克服了透鏡孔徑對散射角的限制，...
麥克默瑞提克納米粒度儀NanoPlus是一款新型的、具有極寬測試範圍的多用途分析儀，它採用光子相關光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術來分析納米粒度和zeta電位，並可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標準。該納米粒度儀zeta電位採用了高靈敏度測量技術，可同時滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的...
和不同格式（BMP圖像檔案、Txt文檔、Word文檔和Excel文檔等）的粒度分析報告。9.權威的測試標準：採用多種微米、亞微米及納米粒度標準物質，對儀器進行全量程校準標定，從而保證了在其測量範圍之內不同大小和不同分布的顆粒群均可得到真實、準確的測試結果。測試結果與國外同類儀器具有很強的可比性和極高的可信度。
winner2008系列雷射粒度分析儀在採用經典Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換專利技術以及無約束自由擬合數據處理技術的基礎上，揉和了頻譜放大技術，從而在有限的空間內輕而易舉的拓寬了測試範圍。儀器簡介 操作和校準全自動化：使用過程中，只要針對所測樣品的特性設定好測試條件後，分散、測試、沖洗等一系列操作過程便可...
Winner2008全量程智慧型 雷射粒度分析儀 是採用經典Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換專利技術以及無約束自由擬合數據處理技術的基礎上，柔和了頻譜放大技術的儀器 產品介紹 該設備擁有全新的測試原理：該款儀器在採用經典Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換專利技術以及無約束自由擬合數據處理技術的基礎上，柔和了頻譜放大技術...
Winner2008雷射粒度分析儀是一款分析儀。☆ 性能特點 ◆全新的測試原理：該款儀器在採用經典Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換專利技術以及無約束自由擬合數據處理技術的基礎上，柔和了頻譜放大技術，從而在有限的空間內輕而易舉的拓寬了測試範圍；◆操作和校準全自動化：使用過程中，只要針對所測樣品的特性設定好測試...
Winner2308雷射粒度分析儀是一款分析儀。產品簡介 Winner2308雷射粒度分析儀是我公司精心打造的一款全量程，乾濕一體的智慧型型雷射粒度分析儀，它是一款真正意義上的乾、濕一體的雷射粒度分析儀，是顆粒種類較多且顆粒分布較寬的工業粉末工業生產質量控制及科研機構的首選。性能特點 ◆乾、濕一體：該款儀器集乾法、濕法為...
雷射粒度分布分析儀 雷射粒度分布分析儀是一種用於材料科學領域的物理性能測試儀器，於2017年7月5日啟用。技術指標 納米級到微米級。主要功能 測試顆粒大小。
