納米粒度分析儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2005年10月01日啟用。
納米粒度分析儀是一種用於物理學領域的物理性能測試儀器，於2005年10月01日啟用。技術指標1、檢測器：採用高信噪比的PMT光電倍增管檢測器或APD檢測器 2、分析時間：30-120秒 3、可根據樣品散射信號相對於樣品池...
納米粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，採用數字相關器的納米雷射粒度儀，其採用高速數字相關器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重複及測試準確等特點，是納米顆粒粒度測試的首選產品。原理 先進的測試原理：本儀器採用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據...
納米粒度及Zeta電位分析儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的物理性能測試儀器，於2012年4月5日啟用。技術指標 1、Zeta電位部分： 1.1電泳測量適用粒度範圍：0.005-30μm;1.2電泳遷移率範圍：10 -10- 10 -7 m2 /V.s;1.3 樣品池：3ml方形樣品池，易於徹底清洗，避免交叉污染;1.4樣品體積：1-1...
納米粒子分析儀 納米粒子分析儀是一種用於生物學、基礎醫學領域的物理性能測試儀器，於2003年6月18日啟用。技術指標 檢測粒子直徑：50nm ~ 10+μm 檢測粒子濃度：105- 1012 /ml 體積：直徑12.5cm， 高21.5cm 重量：5kg。主要功能 檢測樣本溶液中納米顆粒的數量。
granulometer；grainsize analyzer研究細粒物料(＜37～40μ)粒度組成所用的儀器。如圖像分析儀、光衍射儀、粒度分析儀及小角度光散射儀等。定義 粒徑的定義 當被測顆粒的某種物理特性或物理行為與某一直徑的同質球體（或其組合）最相近時，就是把該球體的直徑（或其組合）作為被測顆粒的等效粒徑（或粒度分布）。...
納米粒度ZETA電位分析儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器，於2006年6月1日啟用。技術指標 1、納米粒徑測量量程：2-3000nm；2、zeta電位測量量度-100— +100mV；3、清液中顆粒等電點測量可測pz=2～12。主要功能 110米顆粒粒徑分布，分散性分析，zeta電位測量等電點測量。
光子相關光譜法就根據特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理先進、精度極高的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性，2009年推向國內市場，是國內第一台納米雷射粒度儀，也是國內技術最成熟的雷射粒度儀。基本信息 型號：Winner801型 套用範圍：化工、電子、電池材料、造紙、冶金、陶瓷、建材、...
雷射納米粒度及Zeta電位分析儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2009年12月16日啟用。技術指標 最大粒徑範圍：0.3 nm - 10 μm ；濃度範圍： 0.1ppm – 40% w/v；檢測角度：175o 和 12.8o； Zeta電位範圍：無實際限制 ；電泳遷移率：0 – 無實際上限；最大樣品電導率：300mS/cm；最大樣品濃度：40...
zeta電位分析儀NanoPlus是麥克默瑞提克（上海）儀器有限公司一款新型的、多用途分析儀，是採用光子相關光譜法、電泳光散射以及FST技術來分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和zeta電位一體機，並可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標準。該儀器採用了高靈敏度測量技術，可同時滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位...
該設備是一款適用於納米、亞微米、微米、毫米級顆粒的全量程寬分布顆粒粒度測試的智慧型型雷射粒度分析儀。它融入了新的測試技術，拓寬了其測試範圍，使具有強大的普遍適用性，雙光束專利技術則保證了微小顆粒測試精度，可以滿足不同行業對雷射粒度儀的測試要求。特點 1.全新的測試原理：該款儀器在採用經典Mie氏散射原理...
納米粒度電位儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2006年05月27日啟用。技術指標 粒徑測量 最大粒徑範圍: 0.3 nm - 10 μm * 濃度範圍: 0.1ppm – 40% w/v * 檢測角度: 175o 和 12.8o 最小樣品量: 12 μl Zeta電位測量 Zeta電位範圍: 無實際限制 電泳遷移率: 0 – 無實際上限 最大樣品電導...
與該款儀器相匹配的軟體操作簡單直觀，不僅可對樣品進行動態檢測，而且還具有強大的數據處理和輸出功能，用戶可根據自己的需求和習慣選擇不同顯示方式（例如粒度分布數據表、直方圖和曲線圖）和不同格式（BMP圖像檔案、Txt文檔、Word文檔和Excel文檔等）的粒度分析報告。權威的測試標準 採用多種微米、亞微米及納米粒度標準...
和不同格式（BMP圖像檔案、Txt文檔、Word文檔和Excel文檔等）的粒度分析報告。9.權威的測試標準：採用多種微米、亞微米及納米粒度標準物質，對儀器進行全量程校準標定，從而保證了在其測量範圍之內不同大小和不同分布的顆粒群均可得到真實、準確的測試結果。測試結果與國外同類儀器具有很強的可比性和極高的可信度。
Winner2308雷射粒度分析儀是一款分析儀。產品簡介 Winner2308雷射粒度分析儀是我公司精心打造的一款全量程，乾濕一體的智慧型型雷射粒度分析儀，它是一款真正意義上的乾、濕一體的雷射粒度分析儀，是顆粒種類較多且顆粒分布較寬的工業粉末工業生產質量控制及科研機構的首選。性能特點 ◆乾、濕一體：該款儀器集乾法、濕法為...
按照動態光散射的原理測量納米粒子的粒度，粒度範圍為0.6nm~6μm流體力學直徑，濃度範圍為0.1ppm~40% (w/w)；可分辨不同粒子的Zeta電位貢獻；可以隨時間和溫度變化進行趨勢分析；與自動滴定系統相連線後，可自動測定粒度、Zeta電位隨pH（2~12）、鹽濃度和電導率的變化；按照靜態光散射的原理可對分子量進行測定...
馬爾文納米粒度電位儀 馬爾文納米粒度電位儀是一種用於物理學、化學、材料科學領域的物理性能測試儀器，於2015年09月07日啟用。技術指標 1.粒度測量範圍：0.3nm-10μm；2、濃度範圍：0.1ppm–40%w/v。主要功能 1、粒度測試；2、Zeta電位測試。
