雷射納米粒度及Zeta電位分析儀

雷射納米粒度及Zeta電位分析儀是一種用於化學領域的分析儀器，於2009年12月16日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射納米粒度及Zeta電位分析儀
• 產地：英國
• 學科領域：化學
• 啟用日期：2009年12月16日
• 所屬類別：分析儀器

技術指標

最大粒徑範圍：0.3 nm - 10 μm ；濃度範圍： 0.1ppm – 40% w/v；檢測角度：175o 和 12.8o； Zeta電位範圍：無實際限制 ；電泳遷移率：0 – 無實際上限；最大樣品電導率：300mS/cm；最大樣品濃度：40% w/v ； 最小樣品量：150 μl ；粒徑範圍：3.8nm - 100 μm； 分子量範圍：342 - 2 ×107 Da * (動態光散射) ；980 - 2 ×107 Da * (靜態光散射)；最小樣品量 12 μl。

主要功能

為膠體和聚合物化學專家提供綜合測量三項最重要參數的能力，即粒度、zeta 電位和分子量。