納米粒度及Zeta電位分析儀

納米粒度及Zeta電位分析儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的物理性能測試儀器，於2012年4月5日啟用。

基本介紹

• 中文名：納米粒度及Zeta電位分析儀
• 產地：美國
• 學科領域：環境科學技術及資源科學技術
• 啟用日期：2012年4月5日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器

技術指標

1、Zeta電位部分： 1.1電泳測量適用粒度範圍：0.005-30μm;1.2電泳遷移率範圍：10 -10- 10 -7 m2 /V.s;1.3 樣品池：3ml方形樣品池，易於徹底清洗，避免交叉污染;1.4樣品體積：1-1.5ml;1.5散射角：15°1.6溫控範圍：5-100℃,±0.1℃;1.7電極：永久型平板式電極，可重複使用，避免電滲運動的影響，避免交叉污染。1.8雷射器：35mW固體雷射器，帶有獨立的溫度與電流控制系統。1.9檢測器：雪崩式光電二極體（APD）或者光電倍增管（PMT）;1.10 電導率範圍 0-700mS/m。

主要功能

測量膠體顆粒表面電位電勢。