納米粒度及ZETA電位測試儀

納米粒度及ZETA電位測試儀是一種用於化學、材料科學、化學工程領域的物理性能測試儀器，於2020年5月7日啟用。

基本介紹

• 中文名：納米粒度及ZETA電位測試儀
• 產地：奧地利
• 學科領域：化學、材料科學、化學工程
• 啟用日期：2020年5月7日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器 > 粒度分布測量儀

技術指標

粒度測量範圍：0.3nm-10um；單角度濃度測量範圍： 40% w/v；粒度測量角度：15 度、90 度和 175 度或其他三種測量角度。電導率範圍： 0-200ms/cm 的樣品；測量範圍±1000mV；採用 cm-PALS 相位分析技術。

主要功能

適用於納米材料，包括乳液，懸浮液，蛋白質等樣品的粒度Zeta 電位及分子量的測量，用於表征和評判各種體系的粒徑分布、分子量大小以及體系穩定性。