granulometer;研究細粒物料(<37~40μ)粒度組成所用的儀器。
基本介紹
概念
粒徑粒度
粒徑的定義
- 粒度測量實質上是通過把被測顆粒和同一種材料構成的圓球相比較而得出的;
granulometer;研究細粒物料(<37~40μ)粒度組成所用的儀器。
granulometer;grainsize analyzer研究細粒物料(<37~40μ)粒度組成所用的儀器。如圖像分析儀、光衍射儀、粒度分析儀及小角度光散射儀等。...
雷射粒度分析儀編輯 鎖定 光在傳播中,波前受到與波長尺度相當的隙孔或顆粒的限制,以受限波前處各元波為源的發射在空間干涉而產生衍射和散射,衍射和散射的光能的...
雷射粒度分析儀原理光在傳播中,波前受到與波長尺度相當的隙孔或顆粒的限制,以受限波前處各元波為源的發射在空間干涉而產生衍射和散射,衍射和散射的光能的空間(...
粒度分析儀器當被測顆粒的某種物理特性或物理行為與某一直徑的同質球體(或其組合)最相近時,就是把該球體的直徑(或其組合)作為被測顆粒的等效粒徑(或粒度分布)...
用光透過方法在一定沉降高度h位置,測定光柱中不同粒徑的粉塵濃度,計算出粉塵粒度分布。 [2] 粒度分布測定步驟 編輯 1.接通粒度分析儀(以下簡稱儀器)電源,預熱15...
粒度儀分為三類: 納米粒度儀,雷射粒度儀和單顆粒光阻法粒度儀粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器。根據測試原理的不同分為沉降式粒度儀、...
全自動微粒粒度分析儀,粒徑範圍為0.5 um – 400 um,測量時間為60 – 180s。...... 全自動微粒粒度分析儀,粒徑範圍為0.5 um – 400 um,測量時間為60 –...
粉塵粒度分析儀採用斯托克斯原理和比爾定律測定粉塵粒度分布(分散度)。與常規方法相比省去天平稱重和顯微鏡數數等繁雜工作。讀數直觀,測定結果自動儲存,也可由用戶根據...
Rise-2008型雷射粒度分析儀採用全量程米氏散射理論,充分考慮到被測顆粒和分散介質的折射率等光學性質,根據大小不同的顆粒在各角度上散射光強的變化反演出顆粒群的...
該設備是一款適用於納米、亞微米、微米、毫米級顆粒的全量程寬分布顆粒粒度測試的智慧型型雷射粒度分析儀。它融入了新的測試技術,拓寬了其測試範圍,使具有強大的普遍...
平均粒度儀是一種利用空氣透過法來測量粉末的平均粒徑的儀器。是利用空氣泵打出一定量的氣體,通過一定的氣體流量流經粉末層所有顆粒表面,最後由U形壓力計及流量...
定義 粒度指顆粒的大小 表示方法 D50,D97,比表面積 測定方法 篩析法、沉降法、雷射法和顯微法 分析儀器 雷射粒度分析儀、超聲粒度分析儀 目錄...
Winner3008雷射粒度分析儀是適用於寬分布顆粒測試的乾法智慧型型雷射粒度分析儀。...... Winner3008雷射粒度分析儀是適用於寬分布顆粒測試的乾法智慧型型雷射粒度分析儀。...
雷射粒度儀是通過顆粒的衍射或散射光的空間分布(散射譜)來分析顆粒大小的儀器,採用Furanhofer衍射及Mie散射理論,測試過程不受溫度變化、介質黏度,試樣密度及表面狀態...
粒徑分布圖及分析儀(3張) 粒徑粒徑的表示 編輯 一般將粒徑分為代表單個顆粒大小的單一粒徑和代表由不同大小的顆粒組成的粒子群的平均粒徑。由於實際顆粒的形狀...
概述Winner2008D雷射粒度分析儀是一款適用於納米、亞微米、微米、毫米級顆粒的全量程寬分布顆粒粒度測試的智慧型型雷射粒度分析儀。它秉承了前期產品Winner2005雷射粒度儀...
比如兩個粒徑比為1:10的顆粒,其沉降速度之比為1:100,就是說細顆粒的沉降速度要慢很多。為了加快細顆粒的沉降速度,縮短測量時間,現代沉降儀大都引入離心沉降方式...
zeta電位分析儀NanoPlus是麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司一款新型的、多用途分析儀,是採用光子相關光譜法、電泳光散射以及FST技術來分析的麥克默瑞提克納米粒度儀和...
概述BT-9300H型雷射粒度儀是一種性能優良的粒度分布儀,它採用進口的半導體雷射器,功率大、壽命長、單色性好;採用專門設計的由大規模積體電路工藝製造的大尺寸高...
產品簡介Winner3003是我公司推出的一款乾法全自動雷射粒度分析儀,採用Mie光散射原理作為理論基礎,會聚光傅立葉變換光路,配合高穩定性的He-Ne雷射器與高靈敏度的環...
3321型空氣動力學粒度儀是TSI公司開發出的專利儀器,其測定氣溶膠顆粒的空氣動力學粒徑,並給出氣溶膠數量濃度、表面積濃度、體積濃度及質量濃度隨粒徑的分布情況。...
納米粒度儀是用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器,採用數字相關器的納米雷射粒度儀,其採用高速數字相關器和高性能光電倍增管作為核心器件,具有操作簡便、...