全自動微粒粒度分析儀

全自動微粒粒度分析儀,粒徑範圍為0.5 um – 400 um,測量時間為60 – 180s。

基本介紹

  • 中文名:全自動微粒粒度分析儀
  • 粒徑範圍::0.5 um – 400 um
  • 測量時間::60 – 180s
  • 數據通道::8-512個通道
技術參數,主要特點,套用領域,運用技術,

技術參數

體積:Autodilutor 10.91〞× 18.50〞× 22.36〞
Counter 12.01〞× 18.15〞× 7.01〞
重量:Autodilutor 52.0 lb
Counter 30.0 lb

主要特點

·通過先進的SPOS技術檢測得到真實的粒徑分布:
微粒的入口較大,不會產生堵塞;
不會產生隔離作用,使用的樣品都能經過感測區域;
沒有複雜的去卷積運算,只使用簡單的統計學方法將微分積分的數量-粒徑數據分別轉換為顆粒數、面積和體積的分布,在分布情況中不作任何的假設,全都是由數量—粒徑的原始數據得到的。
·能夠按照實際需要將測量結果劃分為8-512條數據通道,提高了解析度
·集自動取樣、自動稀釋、自動檢測、數據處理以及自動清洗等自動化功能於一身。為用戶提供了方便、快捷、高效、可靠的粒徑分析。
·測量結果可以保存為ASCII格式,以文本方式打開並查看數據。
·圖譜疊加功能,可將所選檔案互相疊加,進行對比,查看結果。
· Windows 驅動軟體——提供真正的多任務的處理能力,有著Windows軟體的共同特徵,兼容Windows 3.11或95/98作業系統。
儀器介紹

套用領域

製藥業(藥劑、粉末等)
特殊化學製品(高分子塑膠、粘合劑、顏料、調色劑、油墨等)
半導體業(CMP Slurry等)
日常用品(食品、飲用乳劑、化妝品等)
其它(陶瓷、粉末冶金、稀土、採礦、炭黑等)

運用技術

經過光感區域的粒子由於大小不同,光強隨之產生相應的變化。將探測器收集的光信號轉換成電壓信號,不同的電壓信號對應不同的粒徑大小,從而得到微粒的粒徑。SPOS技術將光消減和光散射兩種物理作用有機的結合起來,通過光消減獲得較大的動態粒徑範圍,通過光散射增加對小粒子的靈敏度,成為一項專利技術

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