採用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的布朗運動的速度測定顆粒大小。小顆粒布朗運動速度快，大顆粒布朗運動速度慢，雷射照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發生快慢不同的漲落起伏。光子相關光譜法就根據特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理先進、精度極高的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性，2009年推向國內市場，是國內第一台納米雷射粒度儀，也是國內技術最成熟的雷射粒度儀。
基本介紹
- 中文名：納米雷射粒度儀
- 型號：Winner801型
- 執行標準： GB/T19627-2005/ISO133211996
- 測試範圍 ：1-5000nm
基本信息,儀器原理,技術參數,分析軟體,優勢介紹,
基本信息
型號：Winner801型
套用範圍：化工、電子、電池材料、造紙、冶金、陶瓷、建材、化妝品、磨料、醫藥、塗料、食品、農藥、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、鈦白粉、氧化鋁、稀土、顏料、等各種行業粉料、乳液料的粒度分布測試。
儀器原理
採用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的布朗運動的速度測定顆粒大小。小顆粒布朗運動速度快，大顆粒布朗運動速度慢，雷射照射這些顆粒，不同大小的顆粒將使散射光發生快慢不同的漲落起伏。光子相關光譜法就根據特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小。因此本儀器具有原理先進、精度極高的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性，2009年推向國內市場，是國內第一台納米雷射粒度儀，也是國內技術最成熟的雷射粒度儀。
技術參數
主要技術參數
規格型號 Winner801
執行標準 GB/T19627-2005 / ISO13321：1996
測試範圍 1-5000nm（與樣品有關）
準確度誤差 <5%（國家標準樣品）
重複性誤差 <5%（國家標準樣品）
雷射 λ= 532nm，LD泵浦雷射器
探測器 光電倍增管（PMT）
散射角 90o
樣品池 10mm×10mm , 4mL
測試溫度 10-35 ℃
測試速度 <10 Min
數字相關器主要參數： 規格型號 CR140
自相關通道 140
基線通道 4
延遲時間 400ns-10ms 可調
最小分辨時間 8ns
運算速度 125M/s
無溢出時間 >1h
分析軟體
在Windows98/2000/XP系統下運行，操作界面友好，選單提示完整,測試報告數據齊全，結果有積分、 微分分布、平均粒徑和比表面積等數據，中、英文版本軟體供選擇使用。
優勢介紹
高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器採用專業級高性能光電倍增管（PMT），對光子信號具有極高的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結果的準確度；
極高的分辨能力：使用PCS技術測定納米級顆粒大小，必須能夠分辨納秒級信號起伏。本儀器的核心部件採用微納公司研製的CR140數字相關器，具有識別8ns的極高分辨能力和極高的信號處理速度，因此可以得到準確的測定結果。
超強的運算功能：本儀器採用自行研製的高速數字相關器CR140進行數據採集與實時相關運算，其數據處理速度高達125M，從而實時有效地反映顆粒的動態光散射信息。
穩定的光路系統：採用短波長LD泵浦雷射光源和光纖技術搭建而成的光路系統，使光子相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩定性。
測試報告：
801測試報告