納米顆粒儀用物理的方法測試固體顆粒的大小和分布的一種儀器，採用數字相關器的納米雷射粒度儀，其採用高速數字相關器和高性能光電倍增管作為核心器件，具有操作簡便、測試快捷、高分辨、高重複及測試準確等特點，是納米顆粒粒度測試的首選產品。
基本介紹
- 中文名：納米顆粒儀
- 測試方法：物理的方法
- 測試對象：固體顆粒
- 測試內容：固體顆粒的大小和分布
原理
先進的測試原理：本儀器採用動態光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中布朗運動的速度測定顆粒大小。具有原理先進、精度極高的特點，從而保證了測試結果的真實性和有效性。高靈敏度與信噪比：本儀器的探測器採用專業級高性能光電倍增管（PMT），對光子信號具有極高的靈敏度和信噪比，從而保證了測試結果的準確度。極高的分辨能力：使用PCS技術測定納米級顆粒大小，必須能夠分辨納秒級信號起伏。本儀器的核心部件採用微納公司研製的CR140數字相關器，具有識別8ns的極高分辨能力和極高的信號處理速度，因此可以得到準確的測定結果。超強的運算功能：本儀器採用自行研製的高速數字相關器CR140進行數據採集與實時相關運算，其數據處理速度高達125M，從而實時有效地反映顆粒的動態光散射信息。穩定的光路系統：採用短波長LD泵浦雷射光源和光纖技術搭建而成的光路系統，使光子相關譜探測系統不僅體積小，而且具有很強的抗干擾能力，從而保證了測試的穩定性
