高濃度膠體粒度和ZETA電位分析儀

高濃度膠體粒度和ZETA電位分析儀

高濃度膠體粒度和ZETA電位分析儀是一種用於化學、化學工程領域的分析儀器,於2009年11月26日啟用。

基本介紹

  • 中文名:高濃度膠體粒度和ZETA電位分析儀
  • 產地:英國
  • 學科領域:化學、化學工程
  • 啟用日期:2009年11月26日
  • 所屬類別:分析儀器 > 生化分離分析儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

1 粒度範圍:0.6nm~6μm流體力學直徑,精度誤差:小於±2%,重複性偏差:小於±3%CV。 2 濃度套用範圍:0.1ppm~40% (w/w)。 3 最少樣品量:12μL。 4 Zeta電位要求:解析度優於2mV,可分辨不同粒子的Zeta電位貢獻,準確性:不大於±5mV。 5 分子量測定範圍:1×103~2×107 Da。 6 可對粒度和zeta電位隨時間及溫度的變化進行趨勢分析。 7 與自動滴定系統相連線後,可自動測定粒度、Zeta電位隨pH、鹽濃度和電導率的變化。 8 樣品池溫度控制範圍:2~90°C。 9 pH值範圍:2~12。 10 軟體可自動控制的三元滴定系統,可對pH、電導率或添加劑濃度自動滴定,可控制、可程式進樣,具有三種操作方式,並可通過自動滴定來自動測量以下參數:Zeta電位,粒度分布和光散射強度,在分子量測定過程中自動稀釋樣品濃度。

主要功能

按照動態光散射的原理測量納米粒子的粒度,粒度範圍為0.6nm~6μm流體力學直徑,濃度範圍為0.1ppm~40% (w/w);可分辨不同粒子的Zeta電位貢獻;可以隨時間和溫度變化進行趨勢分析;與自動滴定系統相連線後,可自動測定粒度、Zeta電位隨pH(2~12)、鹽濃度和電導率的變化;按照靜態光散射的原理可對分子量進行測定,包括旋轉半徑和第二維利係數,測量範圍為1×103~2×107 Da。

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