多角度粒度與高靈敏Zeta電位分析儀

多角度粒度與高靈敏Zeta電位分析儀是一種用於環境科學技術及資源科學技術領域的物理性能測試儀器，於2018年11月28日啟用。

基本介紹

• 中文名：多角度粒度與高靈敏Zeta電位分析儀
• 產地：美國
• 學科領域：環境科學技術及資源科學技術
• 啟用日期：2018年11月28日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器 > 粒度分布測量儀

技術指標

1.雷射器：功率60 mW，自動輸出；2.溫度控制：-5-110攝氏度；3.測量模式：具備實驗室測試和線上原位測試兩種模式；4.微流變測試功能：動態光散射，示蹤探測顆粒；5.粒度測量範圍：0.3 nm- 10 um；7.重複性：0.4%；8.散射角：15，90，173度。

主要功能

納米材料粒徑的測量，zeta電位及絕對分子量的測定。