全自動雷射粒度分析儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年03月22日啟用。
基本介紹
- 中文名:全自動雷射粒度分析儀
- 產地:美國
- 學科領域:化學
- 啟用日期:2017年03月22日
- 所屬類別:分析儀器 > 電化學儀器
全自動雷射粒度分析儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年03月22日啟用。
全自動雷射粒度分析儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2017年03月22日啟用。技術指標1、對光和校正:無需對光和校正。 2、進樣系統:全自動樣品前處。 3、中心區角度:極小的中心角度,小於0.005度。 4、最大檢測角...
雷射粒度儀winner2000ZD是濟南微納顆粒技術有限公司生產的全自動智慧型型產品。☆產品簡介:Winner2000ZD系列智慧型型濕法台式雷射粒度分析儀是濟南微納顆粒技術有限公司最新推出的全自動智慧型型產品。精心設計的全方位散射光探測系統,配合高靈敏度...
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Winner2000B雷射粒度分析儀是一款分析儀。特點 1.光路設計先進:採用會聚光傅立葉變換專利技術使得大角度散射光不受傅立葉透鏡孔徑的限制,將焦距縮至最短,有效提高儀器的分辨能力;2.濕法分散系統的全內置結構:精心設計了樣品分散系統的...
Winner2008全量程智慧型 雷射粒度分析儀 是採用經典Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換專利技術以及無約束自由擬合數據處理技術的基礎上,柔和了頻譜放大技術的儀器 產品介紹 該設備擁有全新的測試原理:該款儀器在採用經典Mie氏散射原理、會聚光...
全自動雷射粒度分布儀是最新研製的高性能雷射粒度儀,它具有測量範圍寬(0.04-600μm)、自動化程度高等特點。採用專門設計的由大規模積體電路工藝製造的大尺寸高靈敏度光電探測器陣列,有多達9個後向探測器,保證了測試下限達到40納米...
JL9200雷射粒度分析儀,國家專利產品。產品簡介 JL9200攜帶型高分辨雷射粒度儀是我公司在1994年國內首創的國家專利產品,曾獲得全國重點新產品稱號。它採用會聚光傅立葉變換光路用於粒度測試的首創專利技術,將內置微型計算機、液晶顯示器、...
Winner2000M雷射粒度分析儀是一款分析儀器。可以通過軟體的數據修正功能將輸出結果模擬為電阻法、沉降法等儀器的測試結果,是磨料行業的首選產品。產品簡介 Winner2000M是我公司針對磨料行業而專門精心打造的雷射粒度儀。該產品在Winner2000通用...
Bettersize2000雷射粒度儀是一種採用單光束雙鏡頭技術的智慧型型雷射粒度儀,其中測試範圍達0.02-2000μm,所有操作全部在電腦控制下自動完成,並具有自動測試、自動光路校準(自動對中)、自動進水、自動排水、自動消除氣泡、自動清洗、自動...
Easysizer20(易賽20)雷射粒度分析儀是用於測量固體粉末或乳液中顆粒的粒度分布的儀器,其最大的特點是自動化。產品介紹 Easysizer20(易賽20)雷射粒度分析儀是歐美克公司2006年推出的新款雷射粒度儀,測量參數設定後,其餘所有過程只需滑鼠...
Winner3003是我公司推出的一款乾法全自動雷射粒度分析儀,採用Mie光散射原理作為理論基礎,會聚光傅立葉變換光路,配合高穩定性的He-Ne雷射器與高靈敏度的環式光電探測器保證了測試結果的重複性和準確性。本產品採用空氣作分散介質,利用...
Winner3008雷射粒度分析儀是適用於寬分布顆粒測試的乾法智慧型型雷射粒度分析儀。☆產品簡介 它先進的測試原理、全自動的操作方法以及智慧型化的數據分析,保證了該款儀器極高的準確度和重複性,真正實現了雷射粒度儀準確、重複、靈敏的完美結合...
LBT-BT2003雷射粒度分析儀 性能指標 測試範圍:0.04μm-1000μm 進樣方式:外置自動循環分散系統 重複性誤差:準確性誤差:測量原理:米氏散射理論 雷射光源:進口光纖半導體雷射器 軟體運行環境:WinXP/Win7 接口方式:USB或RS232 光電...
Winner318C噴霧雷射粒度分析儀是一套物理分析設備,測試範圍為4.6-2000μm。產品介紹 該設備對分布較寬的霧滴粒度測定而專門設計開發的噴霧雷射粒度儀,是霧滴測量的得力助手。獨特的分體式設計,使其成為一種開放式粒度分析的光學平台,...
Winner2005A雷射粒度分析儀是一款雷射粒度分析儀。儀器簡介 該產品採用先進的測試原理、獨特的計算模式以及權威的校準方式,使該款儀器具有測試結果準確、測試重複性好、解析度高等突出優點,是寬分布顆粒粒度測試的最佳選擇。產品特點 先進的...
Winner2008雷射粒度分析儀是一款分析儀。☆ 性能特點 ◆全新的測試原理:該款儀器在採用經典Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換專利技術以及無約束自由擬合數據處理技術的基礎上,柔和了頻譜放大技術,從而在有限的空間內輕而易舉的拓寬了測試...
JL-1188型全自動乾法雷射粒度儀,採用大角度大規模積體電路多元專用探測器,儀器集光機電一體化結構。產品介紹 該設備分二大部件:主機、輔機(無油空壓機、過濾分離淨化器、抽塵系統),全密封結構,有效的防止粉塵污染,抗干擾能力強。
Winner7301雷射粒度分析儀是為粉體生產線開發的系列產品。☆產品簡介 Winner7301是我公司專門為粉體生產線開發的系列產品。本產品採用MIE散射原理,可以對流動的顆粒粒度分布進行實時監測,並提供準確的控制信號。對於粉磨,分級生產過程的...
Rise-2008型雷射粒度分析儀超聲分散系統能夠對被測樣品進行充分的分散。大功率超聲器(100W)與主機一體,超聲時間全自動操作和觸摸式按鍵連續調節,設定時間數字顯示,超聲時間0~9分50秒連續可調, 可根據樣品分散的難易程度設定超聲時間,...
Winner2308雷射粒度分析儀是一款分析儀。產品簡介 Winner2308雷射粒度分析儀是我公司精心打造的一款全量程,乾濕一體的智慧型型雷射粒度分析儀,它是一款真正意義上的乾、濕一體的雷射粒度分析儀,是顆粒種類較多且顆粒分布較寬的工業粉末工業...
winner2008系列雷射粒度分析儀在採用經典Mie氏散射原理、會聚光傅立葉變換專利技術以及無約束自由擬合數據處理技術的基礎上,揉和了頻譜放大技術,從而在有限的空間內輕而易舉的拓寬了測試範圍。儀器簡介 操作和校準全自動化:使用過程中,...
該設備是一款適用於納米、亞微米、微米、毫米級顆粒的全量程寬分布顆粒粒度測試的智慧型型雷射粒度分析儀。它融入了新的測試技術,拓寬了其測試範圍,使具有強大的普遍適用性,雙光束專利技術則保證了微小顆粒測試精度,可以滿足不同行業對...
不僅可對樣品進行動態檢測,而且還具有強大的數據處理和輸出功能,用戶可根據自己的需求和習慣選擇不同顯示方式(例如粒度分布數據表、直方圖和曲線圖)和不同格式(BMP圖像檔案、Txt文檔、Word文檔和Excel文檔等)的粒度分析報告。
該設備的測試原理:便捷的操作方法:操作方式實現全自動化,只要您針對所測樣品的特性設定好測試條件後,一系列測試過程便可在一分鐘之內自動完成,輕鬆的完成顆粒粒度的測試;三維自動對中:光電探測器採用三維自動對中系統,在避免人工...