雷射粒度測定儀

雷射粒度測定儀是一種用於化學工程領域的物理性能測試儀器，於2004年5月8日啟用。

基本介紹

• 中文名：雷射粒度測定儀
• 產地：美國
• 學科領域：化學工程
• 啟用日期：2004年5月8日
• 所屬類別：物理性能測試儀器 > 顆粒度測量儀器

技術指標

分析範圍：0.4---1000um；0.04---2000um；準確性：＜1%；重現性：＜1%；解析度：可分辨峰粒徑比＞ 2.5的兩個峰；檢測器數目與分析通道數：132枚矽光電檢測器，116個分析通道；雷射光源：光纖固態雷射器，波長750nm。工作壽命大於7萬小時，不工作時無損耗；分析時間：15-90秒(一般建議)；工作條件：環境溫度10－37℃；相對濕度0－90％；儀器功率：3Amp/220-240 V 50Hz。

主要功能

粉末顆粒粒度分析、乳液分析等。