場發射透射電子顯微鏡系統

場發射透射電子顯微鏡系統

場發射透射電子顯微鏡系統是一種用於物理學、化學、材料科學、電子與通信技術領域的分析儀器,於2007年5月4日啟用。

基本介紹

  • 中文名:場發射透射電子顯微鏡系統
  • 產地:捷克
  • 學科領域:物理學、化學、材料科學、電子與通信技術
  • 啟用日期:2007年5月4日
  • 所屬類別:分析儀器 > 電子光學儀器 > 透射電鏡
技術指標,主要功能,

技術指標

TEM形貌像,HRTEM晶格像;選區電子衍射花樣SED,STEM(HAADF)掃束元套愉描透射像,雄槳殼微區成分分析(點、線、面) 點解析度:0.248nm;線解析度:0.102nm;加速電壓 :200KV 能譜甩歡笑儀:能量陵定想分熱厚辨率136ev; STEM掃描透射模式晶格解析度:0.2nm。

主要功能

金屬薄膜、陶瓷粉末、納米材料等微觀結構及成頸戲盼幾分分析擊棗危。

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