化學分析電子能電子能譜譜[學]是1993年全國科學技術名詞審定委員會公布的電子學名詞。
基本介紹
- 中文名：化學分析電子能電子能譜譜[學]
- 外文名：electron spectroscopy for chemical analysis
- 所屬學科：電子學
- 公布年度 ：1993年
出處,公布時間,
化學分析電子能電子能譜譜[學]是1993年全國科學技術名詞審定委員會公布的電子學名詞。
化學分析用電子能譜（ESCA;electron spectroscopy for chemical analysis），以X射線為激發光源照射分子或固體表面，激發原子中的內層電子，使其電離出去成光電子，也可激發外層價電子和能帶電子。各元素在電子能譜圖上有特徵峰，因而分析...
化學分析電子能電子能譜譜[學]化學分析電子能電子能譜譜[學]是1993年全國科學技術名詞審定委員會公布的電子學名詞。出處 《電子學名詞》第一版 公布時間 1993年，經全國科學技術名詞審定委員會審定發布。
化學分析電子能譜法是2016年全國科學技術名詞審定委員會公布的化學名詞。定義 超高真空條件下，用電子能譜儀測量受激原子內層軌道結合能的位移與原子所處化學環境的對應聯繫，從而獲得表面元素化學態的非破壞性分析方法。出處 《化學名詞》...
俄歇電子能譜（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是一種表面科學和材料科學的分析技術。因此技術主要藉由俄歇效應進行分析而命名之。這種效應系產生於受激發的原子的外層電子跳至低能階所放出的能量被其他外層電子吸收而使後者逃脫離開...
俄歇電子能譜儀 電子束轟擊材料表面，會產生表征元素種類及其化學價態的二次電子，這種二次電子稱為俄歇電子。俄歇電子的穿透能力弱，故可以用來分析表面1nm以內幾個原子層的成分。如配上濺射離子槍可對試樣進行逐層分析；掃描電鏡可以...
X射線光電子能譜學（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，簡稱XPS）XPS主要套用是測定電子的結合能來鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析，其特點在光電子來自表面10nm以內，僅帶出表面的化學信息，具有分析區域小、分析深度淺和不破壞...
X射線光電子能譜分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射線去輻射樣品，使原子或分子的內層電子或價電子受激發射出來。被光子激發出來的電子稱為光電子，可以測量光電子的能量，以光電子的動能為橫坐標，相對強度(脈衝/s)為...
Auger 在1923 年發現了Auger效應,這兩個效應構成了現在的化學分析電子能譜學的基礎。分析電子動能的儀器也已經很早就出現了,甚至早在第一次世界大戰前,就已經有了利用磁場分析β 射線的實驗。但是,化學研究中所需要分析的電子的能量普遍...
可以測量光電子的能量，以光電子的動能/束縛能（binding energy，Eb=hv光能量-Ek動能-w功函式）為橫坐標，相對強度（脈衝/s）為縱坐標可做出光電子能譜圖。從而獲得試樣有關信息。X射線光電子能譜因對化學分析最有用，因此被稱為...
儀器類別： 0303070701 /儀器儀表 /成份分析儀器 /電子能譜儀 指標信息： 主真空室：≤6.7×10-8Pa，場發射電子槍燈絲，SEM束斑：≤6nm，電子槍束斑：≤7nm，信噪比：700:1，靈敏度：>700KCPS，能量解析度：1‰；二次電子像斑...
《表面化學分析—X射線光電子能譜—薄膜分析結果的報告》是2019年5月1日實施的一項中國國家標準。編制進程 2018年6月7日，《表面化學分析—X射線光電子能譜—薄膜分析結果的報告》發布。2019年5月1日，《表面化學分析—X射線光電子能...
本冊是這套書的第三冊，包括：熱分析、原子吸收光譜法、發射光譜法、電感耦合電漿光譜法(包括ICP質譜法)、螢光X射線分析法、粉末X射線衍射法、化學分析電子能譜法、電子顯微鏡（透射型、掃描型）、循環伏安法、拉曼光譜法等。本書...
近十幾年來，還發展了分析透射電鏡、 分析掃描電鏡以及附有俄歇電子能譜儀（AES）、掃描俄歇電鏡(SAM)、X射線光電子譜 (XPS)及紫外光電子譜(UPS)等功能的表面微觀分析電鏡,廣泛用於材料的微區形貌、化學組成、化學價態和電子能態的...
之所以有半定量的概念，是因為影響信號強弱的因素除了樣品中元素的濃度外，還與電子的平均自由行程和樣品材料對激發X射線的吸收係數有關。③化學狀態分析化學結構的變化和化合物氧化狀態的變化，可以引起電子線峰位的有規律的移動。據此，...
X射線電子能譜 X射線電子能譜是一種用於化學領域的分析儀器，於2005年10月25日啟用。技術指標 空間解析度（um）：500um，能量解析度小於0.06，靈敏度：100000。主要功能 XPS,UPS。
紫外光電子能譜[法]（ultraviolet photoelectron spectroscopy，UPS）是2016年公布的化學名詞。定義 超高真空條件下，用電子能譜儀測量紫外光子輻照時從樣品表面發射的光電子能量分布，以獲得樣品價帶電子結構的分析方法。出處 《化學名詞》 (...
GB/T 22571-2017 表面化學分析 X射線光電子能譜儀 能量標尺的校準 GB/T 22572-2008 表面化學分析 二次離子質譜 用多δ層參考物質評估深度分辨參數的方法 GB/T 29732-2021 表面化學分析 中等解析度俄歇電子譜儀 元素分析用能量標...
全書共四冊，前三冊共編入了20餘種儀器分析方法，第四冊為數據集。本冊是這套書的第三冊，包括：熱分析、原子吸收光譜法、發射光譜法、電感耦合電漿光譜法(包括ICP質譜法)、螢光X射線分析法、粉末X射線衍射法、化學分析電子能譜...
1956年左右凱·西格巴恩建立了固體表面分析的X射線光電子能譜學（XPS）方法。該方法用X射線源來研究原子的內層電子（core electron）的能量，其能量解析度可達1電子伏特。1962年到1967年期間，物理化學家David W. Turner發展了用於研究氣相...
近常壓x射線光電子能譜是一種用於物理學、化學領域的分析儀器，於2017年12月1日啟用。技術指標 EnviroESCA是一台能原位監測樣品表面性質動態變化的XPS儀器。其能量分析器的半徑為150mm，型號為SPECS PHOIBOS EP，採用單色化的鋁Kα作為...
隨著高科技的發展，需要提高電子產品的功能和性能，高度集成化的工藝要求使印刷線路板越來越向微小精細的方向發展，對於器件表面工藝技術有愈加苛刻的要求。由此，印刷線路板表面污染物分析至關重要。俄歇電子能譜（AES）具有很高的表面靈敏度...
1953年，俄歇電子能譜逐漸開始被實際套用於鑑定樣品表面的化學性質及組成的分析。其特點在俄歇電子來自淺層表面，僅帶出表面的資訊，並且其能譜的能量位置固定，容易分析。原理 一束電子射到樣品表面，根據從樣品表面發射的俄歇電子的能量...
X射線光電子能譜法是2016年公布的化學名詞。定義 超高真空條件下，用電子能譜儀測量X射線光子輻照樣品表面時所發射的光電子及俄歇電子能量分布，以此測定周期表中除氫、氦以外所有元素及其化學態的一種非破壞性表面分析方法。出處 《化學...
X光電子能譜是一種用於材料科學領域的分析儀器，於2015年6月16日啟用。技術指標 電子槍發射的電子最高能量≥1000 eV，能量解析度＞0.5%。 微聚焦單色化XPS，高精度鑑別化學態； 全自動操作，快速準確地分析表面化學表征； 高靈敏度...
X射線光電子能譜小面積分析法（small area analysis by X-ray photoelectron spectroscopy）是2016年全國科學技術名詞審定委員會公布的化學名詞。定義 通過降低能量分析器輸入透鏡光闌或縮小入射X射線束徑，只接收樣品表面小面積出射的光電子...
使其成為定量表面電子能譜化學分析學中的有價值的理論譜，為標準化的實現提供依據。
第3篇現代儀器與生物質化學分析，主要介紹了元素分析、紫外可見光、紅外光譜、色譜分析、質譜分析、核磁共振波譜分析、X射線衍射、熱重/差熱分析、電子掃描電鏡和比表面積等分析技術原理、分析方法及在生物質領域的套用。本書可用作高等...
表面分析方法 表面分析方法有數十種，常用的有離子探針、俄歇電子能譜分析和X射線光電子能譜分析，其次還有離子中和譜、離子散射譜、低能電子衍射、電子能量損失譜、紫外線電子能譜等技術，以及場離子顯微鏡分析等。離子探針分析 離子探針...
ESCA也是化學分析電子能譜（Electron Spectroscopy for Chemical Analysis），由於多用X射線作為發射源，所以通常又特指X射線光電子能譜（XPS：X-ray Photoelectron Spectroscopy）。發展歷程 一、ESCA電子印章的進展情況 2003年12月，經信息...