全自動順序掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器,於2006年4月15日啟用。
基本介紹
- 中文名:全自動順序掃描型X射線螢光光譜儀
- 產地:日本
- 學科領域:化學、地球科學
- 啟用日期:2006年4月15日
- 所屬類別:分析儀器 > X射線儀器 > X射線螢光光譜儀
全自動順序掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器,於2006年4月15日啟用。
全自動順序掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、地球科學領域的分析儀器,於2006年4月15日啟用。技術指標 Cu Kα強度827Kcps Al Kα強度712Kcps RSD=0.024% PR=0.12% Sc=45.1% Pc=31.2%。主要功能 電子和磁性材料、化學工業...
全自動X射線螢光光譜儀是一種用於物理學領域的分析儀器,於2014年04月30日啟用。技術指標 1 類型:順序掃描波長色散型X射線螢光光譜儀; 2 元素分析範圍:氧(8)—鈾(92); 3 濃度範圍從ppm到主含量; 4 長期動態綜合穩定性:≤0...
順序掃描式X射線螢光光譜儀 順序掃描式X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2018年12月12日啟用。技術指標 ARL Perform”X4200。主要功能 主量元素分析,分析元素範圍從Be到U,誤差5%。
03030428 /儀器儀表 /成份分析儀器 /流動注射分析儀 指標信息 3KW,端窗型Rh靶。分光晶體:LiF200,LiF220,PET,Ge,TAP,計算機全程自動控制,θ-2θ角獨立驅動,2θ掃描速度最大1200°/min,連續掃描速度0.1~180°/min,掃描角範圍...
掃描型X射線螢光光譜儀是一種用於冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年4月1日啟用。技術指標 X射線管 4KW薄窗,Rh靶,管電流140mA;全自動計算機控制,2θ掃描速度連續掃描0.1°-300°/min,定位重現性±...
順序式波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於地球科學、材料科學、冶金工程技術、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2009年3月16日啟用。技術指標 長期動態綜合穩定性:0.04%;晶體:彎晶,PX-10人工膜晶體;分析速度:每個...
順序式X射線螢光光譜是一種用於物理學、化學、地球科學、生物學領域的分析儀器,於2004年1月1日啟用。技術指標 下照射,最大發射功率4.2KW。最大激發電壓:70KV,最大激發電流:140MA。可對固體、粉末樣品進行定性、定量分析(分析元素...
全自動掃描型波長色散X螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2013年12月11日啟用。技術指標 用於入廠原輔材料檢驗;建有10條常用工作曲線;B(5)-U(92)大部分元素0.000x%--100%;2θ角準確度0.0025°;2θ角重複性0....
S8 Tiger順序掃描式儀器穩定性:外電源波動1%時,輸出波動為≤ 0.00005% X射線光管: S8 Tiger配備端窗Rh靶陶瓷光管,光管頭部低溫設計,無滲漏Be窗厚度≤75μm。 S8 Tiger最大功率及電壓、電流:≥4kW ,≥60kV,≥170mA ...
掃描性X射線螢光光譜儀是一種用於化學領域的分析儀器,於2008年11月15日啟用。技術指標 四位準直器交換器,配0.23°,0.46°兩個準直器; 自動進樣器:60位X-Y二維全自動機器人進樣器; 高壓發生器: 穩定性:外電源波動±1%...
X射線螢光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。X射線螢光(X-ray fluorescence,XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發出的次級X射線。這種現象被廣泛用於元素分析...
全反射X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年11月28日啟用。技術指標 可分析元素範圍:Al~U(靶元素和與靶元素干擾嚴重的元素除外) 濃度範圍:10-9~100% 檢出限:Ni≤2pg 激發源:最大功率≥30W;最大激發...
X型射線螢光光譜儀是一種用於材料科學、冶金工程技術領域的分析儀器,於2012年9月30日啟用。技術指標 每個元素測量時間在2-10秒;角度準確度優於±0.001°,角度重現性優於±0.0001°。主要功能 主要用於特種合金材料分析檢測,具有...
第十一章X射線螢光光譜儀的特性與參數選擇153 第一節波長色散型X射線螢光光譜儀的特性與技術進展153 第二節X射線高壓發生器154 第三節X射線光管特性與選擇使用154 第四節濾光片、狹縫和準直器156 第五節晶體適用範圍及其選擇157 第...
X-射線螢光光譜儀是一種用於物理學、化學、環境科學技術及資源科學技術領域的分析儀器,於2013年5月5日啟用。技術指標 X射線管靶: 銠靶(Rh) X射線管壓: 60KV(Max) X射線管壓: 150mA(Max)檢測元素範圍:19F...
X-射線螢光岩芯掃瞄器是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2015年9月7日啟用。技術指標 彩色線性分析,曝光時間:10.0ms;元素組分分析:步長:0.1mm,1mm,2mm;磁化率測試:步長:2mm。主要功能 沉積物柱的彩色線性分析、磁化率...
用於入廠原輔材料檢驗;建有10條常用工作曲線;B(5)-U(92)大部分元素0.000x%--100%;2θ角準確度0.0025°;2θ角重複性0.0001°,掃描速度(2θ)0.1-240°/min可調。主要功能 檢驗Fe\K\Na\Ca\Mg\P\V\Si\Al\Cr\...
岩芯掃描X螢光光譜儀是一種用於地球科學領域的分析儀器,於2012年3月8日啟用。技術指標 可測量長度:小於等於1750mm,口徑介於30-120mm,最高測量解析度0.1mm,可測量元素範圍:Al-U之間的108種元素。主要功能 掃描岩芯中化學元素成分,...
如果某種元素 的含量較高或者能量較高,其被Si吸收的機率也就越大。此時,光譜圖中在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產生一個峰,此峰即為逃逸峰。5、在電壓不穩的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。技術參數 ...
Rh靶,多毛細管X射線光學,可達到20μm大小(Mo-K);30mm2矽漂移探測器(SDD),能量解析度 145eV(@300kcps);倉體內部尺寸≥600mm*350mm*260mm;單點,多點,線和自定義(圓形,矩形,多邊形)掃描方式。主要功能 固體、顆粒...
X射線螢光光譜岩芯掃描系統 X射線螢光光譜岩芯掃描系統是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2016年5月1日啟用。技術指標 MSCL-XRF。主要功能 科研用,測試樣品各項參數。
能量型X射線螢光光譜儀 能量型X射線螢光光譜儀是一種用於電子與通信技術領域的分析儀器,於2015年7月31日啟用。技術指標 分析範圍:Na11-U92,檢測範圍:0.001-100%。主要功能 元素成分分析。
波長色散X射線螢光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子,使之產生螢光(次級X射線),從而進行物質成分分析的儀器。利用原級 X射線螢光光譜儀又稱XRF光譜儀,有色散型和非色散型兩種。色散型又分為波長色散型和能量...
波長色散型X射線螢光光譜儀是一種用於化學、食品科學技術領域的分析儀器,於2008年12月23日啟用。技術指標 最大功率3.6KV;0~60KV間,1KV連續可調;高壓發生器輸出穩定度±0.0001%;12位自動進樣器;下照式,六塊晶體。主要功能 ...
X射線螢光光譜是一種用於農學領域的分析儀器,於2010年11月8日啟用。技術指標 最大功率4kW,穩定度±0.0005%,測角儀角度準確度≤±0.001°;角度重複性≤±0.0001°分光晶體:LiF(200),PET,XS55,LiF(220),Ge晶體,測試...
波長色散x射線螢光光譜法wavelength-}isl3ersi}c Y-rayIluoreacenc} sperrrnmeuy X射線照射試樣激發產生各種波長的光,通過晶體衍射進行空間色散,分別測量不同波長的x射線分析線峰值強度,進行定性和定量分析的方法。適用於原子序數4(...
偏振型X射線螢光光譜儀 偏振型X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2011年10月24日啟用。技術指標 XEPOS偏振型X射線螢光光譜儀,滿足輕元素成分測定。主要功能 快速測定元素含量。
N-Kα為12.2Kcps; C-Kα為543Kcps; Al-Kα在PX-25晶體下為892 Kcps。主要功能 X-射線螢光光譜儀被廣泛的套用於岩石,礦物及地球化學勘察樣品中40餘種常,次,微量元素的測定,測定範圍為0.000X%~100%,可用於無損檢測。
1 ※設備為手持式X射線螢光光譜儀,採用45kV Rh靶X射線管作為激發源,最大管電流50uA,具有高分辯矽漂移(SDD)探測器; 2 具有5位置濾光片自動切換功能,以保證分析精度。 3 對各種樣品進行快速準確的分析,包括大樣品,小樣品,金屬...
此後,隨著X射線螢光分析理論和方法的逐漸開拓和完善、儀器的自動化和計算機水平的迅速提高,60年代本法在常規分析上的重要性已充分顯示出來。70年代以後,又按激發、色散和探測方法的不同,發展成為X射線光譜法(波長色散)和X射線能譜法...