偏振型X射線螢光光譜儀

偏振型X射線螢光光譜儀

偏振型X射線螢光光譜儀是一種用於材料科學領域的分析儀器,於2011年10月24日啟用。

基本介紹

  • 中文名:偏振型X射線螢光光譜儀
  • 產地:德國
  • 學科領域:材料科學
  • 啟用日期:2011年10月24日
  • 所屬類別:分析儀器 > 光譜儀器
技術指標,主要功能,

技術指標

XEPOS偏振型X射線螢光光譜儀,滿足輕元素成分測定。

主要功能

快速測定元素含量。

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